X-3600贵金属检测系统技术参数及规格

一．X-3600贵金属检测系统包括：

X-3600贵金属检测仪一台，密度检测仪一台，贵金属分析软件一套，密度分析软件一套。

二．X-3600贵金属检测系统特点：

1.测量时间短：60秒到180秒可调，一键式快速测量3.5秒可出结果。

2.银铜双峰位校准：银，铜双峰位同时校准，使仪器校准更加精准，随时修正工作曲线，使测量结果达到最高精度。

3.温度控制系统：内部风冷水冷双循环冷却，最大限度降低X光管工作温度，延长光管使用寿命且保证仪器长时间工作稳定，测量精度准确。

4.密度检测系统：可以对样品的密度进行准确分析，鉴定，从而实现对未知样品内部材料的定性定量分析。

5.操作软件：开放的可供客户自行开发和升级的工作软件，真正实现零费用升级，使一机多能。

6.硬件结构：仪器双箱体结构，有效屏蔽干扰，增加仪器整体稳定性。

7.报告格式：输出报告格式可根据客户要求独立设计。方便企业，质检部门等不同客户具体需要。

三．X-3600贵金属检测系统整体技术参数与指标：

1.分析元素范围：从铝（13号元素）到铀（92号元素）。

2.元素分析含量范围：1ppm到99.99%。

3.元素同时分析能力：26种元素。

4.测量样品型态：固体，粉末，液体。

5.探测器：美国Amptek原装进口Si-Pin探测器，探测面积6mm2分辨率139eV。

6.X光管：W靶X光管，对金银铂钯等贵金属激发效率更高。

7.高压电源：美国Spellman原装进口高压电源，最大功率50W，50kV,1mA。

8密度检测系统：密度检测仪及检测软件一套，可以对样品的密度进行准确分析，鉴定，从而实现对未知样品内部材料的定性定量分析。

9.镀层检测：仪器可对不同基体上的不同金属镀层进行多层检测，并得出准确结果。

10.其他元素测量：对贵金属行业中可能遇到的铱，钌等铂族金属准确测量。

11.样品成像定位系统：内置自感光500万像素摄像头及先进的定位软件，方便样品的局部定位测量,尤其微小样品更易准确测量。

12.测量精度：以黄金样品为例：高含量样品（含量在75%以上）误差 ±0.1%。

低含量样品（含量在75%以下）误差 ±0.3%。

13.测量时间：60秒到180秒可调，一键式快速测量3.5秒可出结果。

14.测量次数：任意可调，且在多次测量时可做平均值及标准偏差测量。

15.定量分析方法：基本参数法，理论Alpha系数法，经验系数法，多元回归法等计算方法综合使用，独创具有自主知识产权的软件分析方法。

16.定性分析方法：元素自动寻峰，Kl谱线标记法，峰谱比对法等。

17.操作软件：开放的可供客户自行开发和升级的工作软件，真正实现零费用升级，使一机多能。

18操作模式：一键式操作全电脑控制与人工选择测试方法两种测试模式，满足不同测试单位、不同测试人员的不同要求。

19.银铜双峰位校准。银，铜双峰位同时校准，独创国内仪器校正方法，使仪器校准更加精准，随时修正工作曲线，使测量结果达到最高精度。

20.峰位自调系统：当仪器峰位有所偏移时，自动调节软件可自动调试恢复仪器到正常测量状态。

21.三重防辐射系统：更换样品时X光管自动切断电压电流；样品仓打开，X光管快门自动闭锁；仪器多层屏蔽舱盖，有效防止X射线外溢

22.温度控制系统：内部风冷水冷双循环冷却，最大限度降低X光管工作温度延长光管使用寿命，且保证仪器长时间工作稳定，测量精度准确。

23.硬件结构：仪器双箱体结构，有效屏蔽干扰，增加仪器整体稳定性。

24.超大样品仓：方便大型样品的检测。

25.系统可选装：RoHS测试方法，有毒有害物质检测方法等几十种应用于不同测试机构的不同测试方法。