标准：
1. GJB150.5设备环境试验方法：温度冲击实验用途及特点：
1.适用于电子零部件、半导体、电子线路板、金属材料等行业测试。
2. 试验箱下部为低温区，上部为高温区，试件放置在试验箱中部，高温冲击时上风门打开，形成高温内循环。低温冲击时，上风门关闭，下风门打开，形成低温内循环。如有需还可以与环境温度连通，形成三箱法试验。
3. 试件可静止不动，避免了用户因试件移动带来的诸多不便。
4. 采用进口全封闭风冷压缩机，进口可触式控温仪表。
5. 工作室采用镜面不锈钢板，外壳静电喷涂。主要技术参数及规格:产品名称型号参考报价工作室尺寸（mm）深×宽×高温湿度范围其他技术参数高低温冲
击试验箱GDC40056500350×400×400冲击温度：
-20℃－ 130℃温度波动度:≤±0.5℃
温度均匀度:≤±2℃
恢复时间：≤5minGDC401076000450×450×500GDC600582000350×400×400冲击温度：
-40℃－ 130℃GDC6010110000450×450×500