满足条件

GJB150.5

设备环境试验方法：温度冲击试验

用途及特点

1、广泛用于半导体、电子零部件、电子集成线路板、化学金属材料等行业测试。

2、采用三箱冲击法，测试品可静止不动，避免了试件移动带来的诸多不便。

3、试验箱分低温畜冷区、高温畜热区和实验区，低温冲击时，打开低温室风门，与低温室形成低温内循环，高温冲击时，打开高位室风门，与高温室形成高温内循环，如有需还可以与环境温度连通，形成三箱法试验。

4、配进口触摸式可编程温控仪，中文液晶显示，记录实验曲线，并可与计算机连接，制冷系统采用进口风冷或水冷压缩机。

5、工作室为不锈钢板制成，外壳冷轧板静电喷涂。

技术参数