DT-156测厚仪介绍
超性价比两用测厚仪
DT-156涂镀层测厚仪是CEM华盛昌最新推出的一款测厚仪产品。高度和人体工程学设计使此产品广泛适用于各种高精度厚度要求的测量工作环境。
此产品在磁性和非磁性物质表面上涂镀层厚度都可以进行测量,在汽车、工业、建筑、机械设备等生产和应用领域都能发挥应用的作用。
DT-156涂镀层测厚仪探头可以在电磁感应和涡流两种原理下工作。在自动模式(AUTO)下,两种原理可视测量的基体自动转换,或可通过菜单进行自动模式和非自动模式转换。
DT-156涂层测厚仪特点
1.可测量涂镀层:任何磁性物质表面的非磁性涂镀层厚度;任何非磁性金属表面的绝缘涂镀层厚度; 2.测量厚度:0~1250um(0~49.21mils) 3.连续和单次测量方式 4.直接工作模式和组工作模式 5.可统计并显示:平均值/最大值/最小值/标准方差/统计数 6.非常方便的进行一点或两点校准 7.可保存400个测量数据(80个原始数据和320个组数据) 8.USB传输数据至计算机分析统计 9.实时删除测量数据和组数据 10.高低限报警 11.低电和错误提示可设置的自动关机功能 12.易操作的菜单设计 |
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DT-156涂镀层测厚仪结构
CEM DT-156测厚仪规格
传感器探头 | 铁磁性 | 非铁磁性 | 工作原理 | 磁感应 | 涡流 | 测量范围 | 0~1250um 0~49.21mils(注意:1mil=25.4um) | 0~1250um 0~49.21mils | 误差 (相对当前读数) | 0~850 um (+/- 3%+1um) 850um~1250 um (+/- 5%) 0~33.46mils(+/- 3%+0.039mils) 33.46um~49.21mils (+/- 5%) | 0~850 um(+/- 3%+1.5um) 850um~1250um (+/- 5%) 0~33.46mils(+/- 3%+0.059mils) 33.46um~49.21mils (+/- 5%) | 精度 | 0~50um (0.1um) 50um~850um(1um) 850um~1250um(0.01mm) 0~1.968mils (0.001mils) 1.968mils~33.46mils(0.01mils) 33.46mils~49.21mils(0.1mils) | 0~50um (0.1um) 50um~850um(1um) 850um~1250um(0.01mm) 0~1.968mils (0.001mils) 1.968mils~33.46mils(0.01mils) 33.46mils~49.21mils(0.1mils) | 测量最小曲率半径 | 1.5mm | 3mm | 最小测量面积(直径表示) | 7mm | 5mm | 可测量基体最小厚度 | 0.5mm | 0.3mm | 工作温度 | 0℃~40℃(32℉~104℉) | 工作湿度 | 20%~90% | 尺寸(主机) | 113.5*54*27mm | 重量(主机) | 110g | 配件 | 说明书,保修卡,合格证,电池,两块校准基体(非磁性金属和磁性金属),5快校准片,USB数据线,CD软件光盘,工具箱,彩盒。 |
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涂层测厚仪常见使用场合
CEM DT-156测厚仪可应用在无损、快速和高精度涂镀层测厚领域。它是油漆、防腐蚀、电镀、汽车工业、轮船运输、飞机制造等相关行业理想的辅助制造生产工具。它可以稳定地工作于实验室,车间现场和户外。同时,它可以工作在电磁感应和涡流两种原理下,完成不同涂镀层的测厚任务。
涂层测厚仪使用方法
1.工作模式: 1-1.AOTO:探头根据待测物体性质(铁磁性物质或非铁磁性金属)自动转入相应工作模式。如果待测物体是铁镍等磁性金属物质,探头将转入磁感应原理工作模式;如果待测物体时非磁性的金属物质,探头将转入涡流原理工作模式。 1-2.Fe:探头将是磁感应原理工作模式。 1-3.No-Fe:探头将是涡流原理工作模式。 2.直接测量(DIR):开机默认为此模式。用于快速随意测量。在此模式下,测量数据会临时保存在内存中,可以通过菜单浏览所有已存数据和统计值,但一旦关机、系统掉电或从直接测量模式切换到组工作模式,这些数据将会丢失。此模式下,最多可统计80个数据,超出的最新读数将替换最旧读数并保存更新统计值。 3.组测量(GR01~GR04):每一组工作模式下,系统可保存最多80个数据,5个统计值。关机和掉电,所有保存值不会丢失,并且组与组之间相互独立不受影响,需要删除保存的值,可通过菜单操作进行。当测量数据超出80个,数据测量可以继续进行,但是所有数据将不被保存和统计计算。如有需要,可通过菜单删除组数据。 |
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| 4.读数浏览:通过“Measurement view”菜单项,浏览当前工作组所有测量读数。 5.测量中的统计数据:厚度统计数据可统计80个读数(GR01~GR04总共最多可存储4*80=320个读数)。此外,在DIR模式除了读数不存储外,其他和GRO模式相同。 NO.:开机以来进行统计的读数个数 AVG:平均值 Sdev:标准方差 MAX:最大读数 MIN:最小读数 |
测量方法 1.按开关键开机。 2.如果被测涂层的基体是磁性金属基体,则用出厂配备的圆形铁基进行零校准,将探头平稳放在铁基上,如果测出来的数据不是在-1~1um之间,则按ZERO清零键进行零校准,零校准后测量下自带的相对应的校准片,看下测出来的数据是否在正常误差范围之内,如果是则可以直接用于测量,如果不是则重新进行零校准,非磁性金属基体则选择方形铝片铁基进行校准,校准方法和铁基一致。 | |
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测厚仪疑难指示
下面的故障符号可提示如何去识别和排除故障。
Err1:涡流探头有异常
Err2:磁感应探头有异常
Err3:两探头均有异常
Err4,5,6:保留未使用
Err7:厚度测量结果错误
工厂检定报告