简单介绍

Thick 800 X荧光光谱仪主要针对大件部件的镀层厚度和含量的无损、快速测定，它不同于EDX600B的下照式和封闭样品腔的设计，而是采用上照式，通过三维的移动和激光定位，实现对尺寸范围较大部件进行镀层厚度和含量的点测量应用领域：黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测；金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；贵金属加工和首饰加工行业；银行、首饰销售和检测机构；电镀行业。

Thick 800 X荧光光谱仪的详细介绍

配置
开放式样品腔
二维移动样品平台
探测器和X光管上下移动可实现三维移动
双激光定位装置
准直器自动切换装置
玻璃屏蔽罩
正比计数盒探测器
信号检测电子电路
高低压电源
X光管
计算机及喷墨打印机
样品腔尺寸：517mm×352mm×150mm
外型尺寸：648mm×490mm×544mm

2、技术指标：

 2．1  ● 工作温度：15-30℃           ● 电   源：AC :220V ±5V 

2．2 元素分析范围从钾K到铀U

2．3 一次可同时分析多层镀层

2．4 分析厚度检测出限最高达0.01um ，多次测量重复性最高可达0.01um

2．5 长期工作稳定性小于0.1um ( 5um左右单镀层样品 )

2．6 测量时间：60-300秒

3、仪器硬件部分主要配置：

3．1  正比计数盒探测器

3．2  ●X 光管   ●高、低压电源  ● MCA多道分析器

3．3  ●开放式样品腔●二维移动样品平台●探测器和x光管上下移动可实现三维移动

3．4  ●双激光定位装置●准直器自动切换装置●玻璃屏蔽罩●信号检测电子电路

3．5 计算机及喷墨式打印机

4、仪器软件配置：

4.1、测厚分析软件（配送）

功能介绍：检测、分析镀层的厚度和成分, 可分析单镀层、多镀层以及合金镀层, 具有多种镀层的分析方法, 可做同时显示英制和公制单位

4.2、全元素分析软件（可选购）