随着光通信行业的高速发展，光器件、模块的市场需求日益增加。尤其是平面光波导分路器（PLC）在光纤到户（小区、楼宇）以及PON网络中的应用逐年递增。
    在竞争激烈的光器件生产测试领域，产品各项指标的低成本高效率测试技术与方法成为各生产厂家最关心的问题。针对光器件的关键指标，尤其是插入损耗(IL)、偏振相关损耗(PDL)、回波损耗（RL）三个重要指标。根据各生产厂家的需求，我所自主研制出了多功能的“多通道光测试系统”。
具有如下优点：
 整机外观美观大方，测试方便，友好的人机界面。
 当系统与测试器件连接好一后，点击开始测试按钮，系统自动对多路器件扫描测试，无须手动测试。
 测试结果会自动计算存储到数据库、生成EXCEL/WORD等格式文本。
 可以事先设置好指标门限阈值，测试完成后直接筛选出低于门限的指标，并生成报表。
 智能化查询、导出测试结果，操作简单、实用。
 实现无纸化测试，大大提高了器件的生产、测试效率。
 具有打印功能，直接打印测试记录、产品标签。
 使用便捷、高效率、高性价比。

1 实现方案（以8路PLC光分路器为例）
本测试系统包括多波长光源模块，光偏振控制模块，功率采集模块，微处理控制器，计算机控制软件等几大部门组成。下图所示：

                       
2 产品型号
 CETC-TEST-Ⅰ（IL测试）。
 CETC-TEST-Ⅱ（IL、PDL测试）。
 CETC-TEST-Ⅲ（IL、PDL、RL测试）。

3 主要技术指标
3.1  IL测试系统（CETC-TEST-Ⅰ）
 光源波长：850、1310、1490、1550、1620（或其他可选）。
 测试模式：单（多）模。
 测试项目：插入损耗(IL)。
 功率计波长范围：750nm～1700nm。
 光探头材料：InGaAs。
 光功率测试范围：-70～+3 dBm。
 光功率测试准确度：±0.02 dB。
 IL测试准确度：±0.01dB。
 分辨率：0.01 dB。
 测试通道：8通道（可扩展）。
 光输入输出接口：FC/SC/ST可选。
 通信接口：RS232。
 电源：AC220V。
3.2  IL、PDL测试系统（CETC-TEST-Ⅱ）
 光源波长：850、1310、1490、1550、1620（或其他可选）。
 测试模式：单（多）模。
 测试项目：插入损耗(IL)、偏振相关损耗(PDL)。
 功率计波长范围：750nm～1700nm。
 光探头材料：InGaAs。
 光功率测试范围：-70～+3 dBm。
 光功率测试准确度：±0.02 dB。
 IL测试准确度：±0.01dB。
 PDL不确定度：±0.04dB。
 PDL重复性：±0.01 dB。
 分辨率：0.01 dB。
 测试通道：8通道（可扩展）。
 光输入输出接口：FC/SC/ST可选。
 通信接口：RS232。
 电源：AC220V。
3.3  IL、PDL、RL测试系统（CETC-TEST-Ⅲ）
 光源波长：850、1310、1490、1550、1620（或其他可选）。
 测试模式：单（多）模。
 测试项目：插入损耗(IL)、偏振相关损耗(PDL)、回波损耗（RL）。
 功率计波长范围：750nm～1700nm。
 光探头材料：InGaAs。
 光功率测试范围：-70～+3 dBm。
 光功率测试准确度：±0.02 dB。
 IL测试准确度：±0.01dB。
 PDL不确定度：±0.04dB。
 PDL重复性：±0.01 dB。
 RL测试范围：0～-70dB。
 RL测试准确度：±0.4dB。
 分辨率：0.01 dB。
 测试通道：8通道（可扩展）。
 光输入输出接口：FC/SC/ST可选。
 通信接口：RS232。
 电源：AC220V。