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1)测量范围： l DOI a 0至100 l 长波(LW) 0至100 l 短波(SW) 0至100 2)结构光谱： l du <0.1mm l wa 0.1至0.3mm l wb 0.3至1.0mm l wc 1.0至3.0mm l wd 3.0至10.0mm l we 10.0至30.0mm l 重复性： 4%或>0.4 6%或>0.6 l 重现性： 6%或>0.6 8%或>0.8 l 扫描长度： 50/100/200mm l 分辨率： 375个测量点/厘米 l 工作曲率： R>500mm l 最小工件尺寸： 35mm×150mm l 测量时间： 4s
光源： 激光二极管，LED和IR-SLED |
| 技术参数: |
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1)测量范围： DOI a 0至100 长波(LW) 0至100 短波(SW) 0至100 2)结构光谱： du <0.1mm wa 0.1至0.3mm wb 0.3至1.0mm wc 1.0至3.0mm wd 3.0至10.0mm we 10.0至30.0mm 重复性： 4%或>0.4 6%或>0.6 重现性： 6%或>0.6 8%或>0.8 扫描长度： 50/100/200mm 分辨率： 375个测量点/厘米 工作曲率： R>500mm 最小工件尺寸： 35mm×150mm 测量时间： 4s 光源： 激光二极管，LED和IR-SLED |
