XLE-2型和XLE-3型是专为IT行业大面积集成电路，晶片的质量检测而设计开发制造的。主体为：正置式、三目镜筒，比传统的显微镜更适合于观察。上部安装彩色摄像机连接彩色监视器直接观察。可连接计算机打印报告、照片或连接数码相机，照相机直接拍照，还可以直接进行图像记录，并建立技术检测档案，存储、查询，可省去复杂烦琐的摄影，洗印等暗室工作，大大的提高了工作效率。 

检测显微镜具有独特的特点：

1）放大倍数：40倍至500倍；

2）超大型载物台，样品可作大范围的纵、横方向快、慢速移动，扩大检测领域的使用范围，适用于电子、冶金、机械、化工、科研、院校等部门，以及金相技术检验，失效分析等。

主要技术参数

1.机械筒长160mm

2.物镜

4×
10×
20×
40×

3.目镜

10× 12.5×

4.放大倍数 40×--500×

5.载物台面积 350mm×255mm

  纵向移动范围---200mm

  横向移动范围---200mm

6.粗微动调焦范围25mm,微调转动一圈样品升降0.2mm,格值

 0.002mm

7.光源钨卤素灯6V20W。内藏式连续调光电源

8.物镜转换器 四孔式(三孔式)

9.目镜筒 三目镜 (双目镜)