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薄膜铂电阻：用真空沉积的薄膜技术把铂溅射在陶瓷基片上，膜厚在2μm以内，用玻璃烧结料把Ni（或Pd）引线固定，经激光调阻制成薄膜元件。
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型号
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外型尺寸
W×L×Hmm
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标称阻值R0
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工作电流mA
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引线尺寸
W×L×Hmm
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工作温度
oC
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误差
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外型图
mm
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CRZ-1632-Ni
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1．6×3．2×1．0
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100Ω
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1
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0．25×0．15×12
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－40~450
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1/3DIN
A
B
2B
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CRZ-1632-Pd
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0．3×0．2×10
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－50~500
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CRZ-2005-Ni
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2．0×5．0×1．0
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2
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0．25×0．15×12
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－40~450
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CRZ-2005-Pd
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0．3×0．2×10
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－50~500
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CRZ-2005-Ni
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500Ω
1000Ω
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0．5
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0．25×0．15×12
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－40~450
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CRZ-2005-Pd
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0．5
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0．3×0．2×10
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－50~500
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ST-1003-Pt
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1．0×3．0×1．3
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20Ω
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1
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0．25×0．15×12
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－50~500
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◆ 薄膜铂电阻应用的注意事项
1. 直接使用元件或制成温度传感器测温时,避免超过测温量程,短时间内虽不会损坏亦影响产品寿命和精度；
2. 用薄膜铂电阻元件组装温度传感器时,在使用高温固化环氧胶灌封时,应注意其在固化过程中应力的变化,否则可能损坏元件(一般为开路); 在使用氧化镁或氧化铝充填过程中,应避免元件直接接触保护管尖锐的内表面,否则在振动过程中,有可能使元件的瓷片边缘破损,造成元件开路损坏；
3. 在制做温度传感器时,必须保证灌封材料的高度绝缘性能,否则会导致产品的电气绝缘性能降低,并且影响元件的测试数据,一般会导致测试电阻值偏低。
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产 品 说 明
