XT H 225 X射线和CT检测系统,可供工业应用
工业零部件内外全检
外部零件和总成特征的详细测量对于质量控制、失效分析和材料研究而言通常是非常重要的。XT H系统可提供强大的X射线源,超大的检测体积和较高的X射线和CT成像分辨率。
XT H 系统可采用225kV电源,可选用旋转目标,适合于各种应用,包括小铸件检测、塑料件及材料研究。
优点
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可灵活地整合在单个系统中:X射线可用于快速目视检测,CT可用于深入分析
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快速数据采集和高质量图像
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可利用交互式操纵杆导航功能进行快速操作
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高分辨率数字成像和处理
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嵌入式安全装置可使操作人员安全地操作该系统,无需任何特殊的预防措施或安全警示标志
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可与行业标准后处理应用紧密集成
25-225kV micro-focus source with 3um focal spot size 25-225kV 微焦点源,焦斑大小为3μm
Low cost maintenance open tube technology
低成本维护开管技术
5-axis fully programmable manipulator
五轴完全可编程操纵器
Choice of high resolution digital detector
精选高分辨率数字探测器
Dual display for combined measurement and real-time analysis
双显示,用于组合测量和实时分析
Intuitive joystick navigation drives real-time X-ray image generation
直观的操纵杆导航可指导生成实时X射线图像
Measurement volume of 25X60cm
测量体积 25X60cm
Safety as a design criterion
安全装置,可作为设计标准
Compact design and low weight facilitates installation
结构紧凑设计,轻质设施安装
Ergonomic loading of sample
符合人体工学的样品装载
应用
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评估和测量精密塑料件和小铸件、复杂机构、内部零件、部件与CAD比较等
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故障检测和失效分析
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装配问题的故障诊断排除
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先进材料研究和生物结构的分析
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模型的数字化归档
主要特征概述
系统技术指标
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5 µm 焦斑反射目标X射线源,25~225 kV,0~2000 µA(非连续)60或225W。
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10kg容量五轴完全可编程操纵器。
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最大扫描范围250 x 330mm。
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最大几何放大倍数:160x.
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最大系统放大倍数:400x。
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特征识别分辨率:最低1µm。
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外机柜尺寸:2030mm L,925mm D,2000mm H。
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全套系统控制和图像处理软件。
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