世界上分析性能最好的全谱直读电感耦合等离子体发射光谱仪

    ICP-OES市场异军突起，销量居世界位的Varian公司，以其一贯的优良品质在广大用户中获得充分的信任，作为ICP-OES技术发展道路上的先驱，Varian公司于2006年4月推出了新一代的Varian700-ES系列全谱直读电感耦合等离子体发射光谱仪，它是ICP-OES发展进程中有一个新的里程碑，是当今世界上分析性能最好的全谱直读电感耦合等离子体发射光谱仪。

   Varian700-ES系列特点：
    1、创新的检测器设计，拥有更快的分析速度和更好的分析性能；
    2、彻底解决检测器溢出问题，使之具有更低的检出限和更宽的动态线性范围；
    3、独一无二的CCI冷锥割尾焰专利技术，使水平观测检验限更低，并且能分析较高TSD含量的样品；
    4、优秀的光学系统，测定过程中没有任何移动部件，提高了仪器的稳定性；
    5、40.68MHZ直接耦合的RF射频发生器为高盐以及有机样品分析提供有效的保证；
    6、直观、强大、易学易用的ICP ExpertTM   II 全中文操作软件，大大提高工作效率。

   无以伦比的性能
 真正的全谱直读测定，一个检测器，一个测定，完成样品全谱分析。缩短了分析时间，具有极好的短期和长期定性；
 优化后的水平观测系统在痕量分析中展现出极高的灵敏度；
 垂直观测系统具有超一流的可靠性和耐用性；
 强有力的等离子体性能允许分析各种难分析的样品，从工业废水中的有机溶剂到高盐样品；
 结合多重检量线技术(MultiCall)，拓宽了测定的线性范围，从百分含量到亚PPb级浓度；
 简单方便的快速自动曲线拟合技术（FACT），轻松地解决了光谱干扰问题和复杂基体分析时背景校正问题。

   划时代的CCD检测技术
 全波长覆盖    专利技术的CCD检测器全波长的连续覆盖而没有断点，有利于灵活选择谱线，消除光谱干扰，并且常量和痕量元素可同时测定而无需改变观测方向或稀释样品。
 抗饱和溢出    CCD检测器的整个阵列都设计了专门的防溢出电路，智能化调节积分时间，从而在硬件上彻底消除了过饱和溢出的问题，在高浓度基体元素共存时同样可以进行痕量元素的测定。
 极快的数据传输速度    几个方阵同时读出线路使得数据输出速率大大提高。
 强大的数据处理功能    每次测定都可得到清晰地CCD的三维立体图像，依次可对干扰情况进行直接的观察，并可通过图像上谱线的位置与强度进行定性和半定量。

   优异的中阶梯光栅交叉色散光学系统
 计算机最佳化设计的中阶梯光栅棱镜交叉色散光学系统实现了最高的光学效率，保证了最好的信噪比和可靠性；
 等离子体观测位置的自动最佳化；
 94.7条/mm刻线密度的中阶梯光栅系统在保证高分辨率的同时，保证了光通量，具有极高的灵敏度和分析精度；
 整个光学系统无移动部件，光学室恒温35℃，保证了优异的长期稳定性；
 利用氩气发射谱线，进行自动在线实时波长校正，保证了分析波长的正确性，无需汞灯或氖灯；
 等离子体点燃10分钟后即进行样品分析，节省了氩气消耗，提高了工作效率。

   性能优异的冷锥接口技术
   Varian700-ES系列的水平炬管式ICP-OES采用了专利设计的冷锥接口（CCI）技术，有效地消除了水平观察方式中尾焰带来的干扰，可以直接分析复杂样品，如有机物和高盐含量的样品。
   冷锥接口技术使水平观测方式在保持优异检出限的同时，突破不能分析高TSD含量样品的限制，无需双向观测，轻松地实现同时测定复杂样品中高、低含量的被测元素，并获得准确的测定结果。