平面平晶|平行平晶
一、用途：
平面平晶是用于以干涉法测量块规，以及检验块规、量规、零件密封面测量仪器及测量工具量面的研合性和平面度的工具。
适用于光学加工厂、厂矿企业计量室、精密加工车间、阀门密封面现场检测使用，也适用于高等院校、科学研究等单位做平面度等检测。 |
二、主要技术规格：
1、平面平晶POF 标准规格尺寸： 单位：mm
产品名称 | 规格 | 级别 | 精度 | | 说明 |
平面平晶 | φ30 | 一级 | 0.03μm | | 拥有检定量块的研合性和不平度，以及仪器和量具的测量面，工作面的不平度，也用于检定高精度的平面零件。 |
φ45 | 一级 | 0.03μm | |
φ60 | 一级 | 0.03μm | |
φ80 | 一级 | 0.05μm | |
φ100 | 一级 | 0.05μm | |
φ150 | 一级 | 0.05μm | |
φ200 | 一级 | 0.1μm | |
φ250 | 一级 | 0.1μm | |
φ300 | 一级 | 0.1μm | |
φ500 | 二级 | 0.1μm | |
平行平晶 | 0-25 | 一级 | | | |
2、平面平晶制成精度：1级
3、平面平晶工作面的平面度偏差允许值为：
| 直径为 30至60mm 1级平晶 0.03μm |
直径为 80至150mm 1级平晶 0.05μm |
更大尺寸平面平晶平面度偏差允许值，根据国家标准。
4、平面平晶工作面的局部偏差允许值为： 0.03μm
5、平面平晶测量工作应在室温2 0℃±3℃条件下保持数小时后进行。 |
