.概述
产品用途:
JQ型冲击试验台可供试验产品做冲击试验,主要提供给小型试件作较高冲击加速度试验用。考核试品承受冲击破坏的程度。常应用于电子元器件,电子线路板等环境试验,本试验设备符合《电工电子产品基本环境试验规范Ea:冲击试验方法》及《IEC68-2-27,试验Ea:冲击》和《MIF-STD202F》规范对冲击试验的要求。
产品特点
JQ型冲击试验台面尺寸较小,台面结构经过有限元优化分析后精心设计,结构强度大,频率响应高,通过高加速度冲击试验,能达到0.5ms的加速度持续时间,冲击半正弦波形符合试验规范。
内置防二次冲击装置,台体配置高效减振装置,冲击高度数字设定,自动执行。
主要技术指标:
3-1 最大负载: |
5kg |
3-2 台面尺寸: |
180mm×140mm |
3-3 冲击峰值加速度范围: |
半正弦波:150~20000m/s2 |
3-4 脉冲持续时间: |
半正弦波:0.5~20ms |
3-5 冲击波形: |
半正弦波形 |
3-6 波形容差 |
a) 当脉冲持续时间≤3ms时,峰值加速度容差为±20%;脉冲持续时间容差为±15%;
b) 当脉冲持续时间>3ms,波形容差应在标准规定的范围内 |
3-7 速度变化量容差为±15% |
±15% |
符合标准 |
GJB150、GJB360、GB2423的要求。 |
3-10防二次冲击装置 |
采用气压制动装置 |
3-12 冲击台台体外形尺寸: |
(1000×750×2400)(mm) |
3-13 冲击台体重量: |
1500kg |
3-14 消耗功率: |
0.3KVA |
3-15工作条件: |
a 电源电压: 220V±10% AC50Hz |
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b环境温度: 0℃-40℃ |
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c相对湿度: ≤90%(25℃) |
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d 周围环境: 无腐蚀性介质,干燥通风,
影响正常工作的电磁场干扰及强烈的振动源。 |
冲击控制测量系统
JQ型冲击控制测量系统是一种专用的冲击波形捕捉和分析平台,适用于一般冲击和高冲击环境下的冲击事件捕捉、测量和分析.它能够满足ISO、MIL-STD-810等测试标准,是冲击环境试验和测量分析的理想工具.