CX-3系列粗糙度轮廓仪采用先进的一体化传感器,并全面更新优化了操作软件,使仪器测量更,重复性更稳定,使用更方便。更有大规格测量仪器供新老用户选择。
CX-3/100粗糙度轮廓仪
粗糙度测量 |
评定参数: | Ra Ry Rz Rt Rq Rp Rv Rmax S Sm tp |
测量范围: | Ra 0.01μm-10μm |
触针位移: | ±500μm |
分 辩 率: | 0.001μm |
示值误差: | ≤3%±5nm |
轮廓测量 |
使用范围: | X:0-100mm Z:0-450mm |
测量范围: | X:0-100mm Z:±3、±6、±10 |
分 辩 率: | 0.001μm、0.1μm |
半经误差: | 0.1% - 0.8% |
CX-3/160粗糙度轮廓仪
粗糙度测量 |
评定参数: | Ra Ry Rz Rt Rq Rp Rv Rmax S Sm tp |
测量范围: | Ra0.01μm-10μm |
触针位移: | ±500μm |
分 辩 率: | 0.001μm |
示值误差: | ≤3%±5nm |
轮廓测量 |
使用范围: | X:0-160mm Z:0-550mm |
测量范围: | X:0-160mm Z:±6、±10、±15 |
分 辩 率: | 0.001μm、0.1μm |
半经误差: | 0.1% - 0.8% |