技术参数

Leeb 210 Leeb211

测头类型： F1 N1

工作原理： 磁感应 电涡流

测量范围： 0~1250μm

低限分辨率： 0.1μm

示值误差： 一点校准 ±（3%H+1）

           二点校准 ±[（1~3%)H+1]

测试条件： 最小曲率半径mm 凸1.5

           最小面积直径mm Φ7

           基本临界厚度mm 0.5

工作环境： 温度 0~40℃

           湿度 20%~90%

           磁场 无强磁场环境

电源： AAA型碱性电池1.5V两节

外形尺寸： 115×70×30mm（主机）

重量： 130g

 

覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有放射源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。 　　随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。

注解：涂层测厚仪又叫覆层测厚仪，镀层测厚仪，涂镀层测厚仪。