Silicon LaboratoriesC8051F120-GQR
深圳市迈阿密电子有限公司
中国 深圳
产品属性
图文详情
品牌推荐
品牌/型号
Silicon Laboratories
封装
TQFP-100
制作工艺
半导体集成
电源电压
2.7DD3.6V
特色标志
新品
处理信号
模拟信号
集成程度
小规模
导电类型
双极型
封装形式
Tray
批号
11+
The C8051F12x-3x系列混合信号单片机包含最快的8位CPU（速度高达100MIPS）， 并具有10位或12位ADC，高达128KB 片上Flash存储器和8KB RAM。
凭借其片上 VDD 监视器、WDT以及时钟振荡器，使得该系列单片机成为真正独立的系统级芯片解决方案。所有模拟和数字外设都可以由用户固件启用/禁用和配置。Flash存储器可以在线编程，提供非易失性数据存储，并还允许8051 固件的现场升级。
片上JTAG调试电路允许使用安装在最终产品上的单片机进行非侵入（不占用片上资源）、全速度、在线调试。 该调试系统支持检查和修改存储器和寄存器、设置断点和观察点、单步、运行和停止命令。在使用JTAG进行调试时，所有模拟和数字外设都可全功能工作。
每个单片机在全工业温度范围（-45 到 + 85 ° C）内的额定工作电压为2.7V至3.6V。 I/O 端口、 /RST和JTAG 引脚都耐 5 V信号输入。该系列产品为100脚TQFP封装或64脚TQFP封装。
特点：
50–100 MIPS 8051 CPU
64–128 kB Flash
8448 B RAM
12至10位 ADC，速度达100 ksps
8位 ADC，速度达 500 ksps (C8051F12x专有)
两路12位 DAC (C8051F12x 专有)
两个比较器
电压参考
温度传感器
5个16位定时器
应用：
工业和过程反馈控制系统
仪器仪表
测试系统
销售终端
卫星无线电系统
基站
光通讯系统
测试设备
衡器
自动测试设备(ATE)
| 产品型号 | 产品详细参数 |
| C8051F133 | 64KFlash,8kRAM,100MIPS,32I/O,2UART/SPI/I2C,10bit ADC,TQFP64 |
| C8051F132 | 64KFlash,8kRAM,100MIPS,64I/O,2UART/SPI/I2C,10bit ADC,TQFP100 |
| C8051F131 | 128KFlash,8kRAM,100MIPS,32I/O,2UART/SPI/I2C,10bit ADC,TQFP64 |
| C8051F130 | 128KFlash,8kRAM,100MIPS,64I/O,2UART/SPI/I2C,10bit ADC,TQFP100 |
| C8051F127 | 128KFlash,8kRAM,50MIPS,32I/O,2UART/SPI/I2C,10bit ADC/12bit 2DAC,TQFP64 |
| C8051F126 | 128KFlash,8kRAM,50MIPS,64I/O,2UART/SPI/I2C,10bit ADC/12bit 2DAC,TQFP100 |
| C8051F125 | 128KFlash,8kRAM,50MIPS,32I/O,2UART/SPI/I2C,12bit ADC/12bit 2DAC,TQFP64 |
| C8051F124 | 128KFlash,8kRAM,50MIPS,64I/O,2UART/SPI/I2C,12bit ADC/12bit 2DAC,TQFP100 |
| C8051F123 | 128KFlash,8kRAM,100MIPS,32I/O,2UART/SPI/I2C,10bit ADC/12bit 2DAC,TQFP64 |
| C8051F122 | 128KFlash,8kRAM,100MIPS,64I/O,2UART/SPI/I2C,10bit ADC/12bit 2DAC,TQFP100 |
| C8051F121 | 128KFlash,8kRAM,100MIPS,32I/O,2UART/SPI/I2C,12bit ADC/12bit 2DAC,TQFP64 |
| C8051F120 | 128KFlash,8kRAM,100MIPS,64I/O,2UART/SPI/I2C,12bit ADC/12bit 2DAC,TQFP100 |
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