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光谱仪、光度计-供应X荧光光谱仪Thick800A-光谱镀膜测厚仪
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产品属性
图文详情
品牌推荐
光源
X荧光
加工定制
波长范围
分析检出限可达2ppm,最薄可测试0.005μm(nm)(nm)nm
外形尺寸
576W x 495 D x 545(H) mm(mm)(mm)mm
重量
90(g)㎏
适用范围
主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业
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