镀层测厚仪产品规格及技术特点

 1、仪器规格:

Ø 外形尺寸    ：380 mm x 510mm x 365 mm （长x宽x高）

Ø 样品仓尺寸       ：360mm×330 mm×50 mm （长x宽x高）

Ø 仪器重量        ：33.5kg

Ø 供电电源    ：AC220V/ 50Hz

Ø 最大功率    ：330W

Ø 工作温度    ：15-30℃

Ø 相对湿度    ：≤85%，不结露

2、镀层测厚仪器特点：

Ø 外形特点：

ð 仪器结构采用人体工程学设计，仪器两侧按成人手臂长度设计，方便移动、搬运。

ð 上盖倾斜6度角，寓意对客户的尊重。

ð 样品盖采用铅玻璃防辐射技术，在保证操作人员安全的前提下，方便观察样品；

ð 表面采用高档汽车喷漆工艺，采用宝蓝、雅致白搭配，蓝色代表科技，白色代表圣洁，寓意对科学的敬仰。

Ø 辐射防护：

ð 样品盖镶嵌铅板、铅玻璃屏蔽X射线。

ð 辐射标志警示。

ð 迷宫式结构，防止射线泄漏。

ð 安全连锁设计；测试过程中误打开样品盖时，电路0.1μS快速切断X射线。

ð 仪器经权威第三方检测，X射线剂量率完全符合GB18871-2002《电离辐射防护与辐射源安全基本标准》。

Ø 硬件技术：

ð 超短光路设计：提高无卤检测分辨率，提高样品分析效率，降低光管功率，延长仪器使用寿命。

ð 模块化准直器，根据分析元素，配备不同材质准直器，从而降低准直器对分析元素的影响，提高元素分辨率。

ð 空气动力学设计，加速光管冷却，有效降低仪器内部温度；静音设计。

ð 电路系统符合EMC、FCC测试标准。

ð 快拆卸样品台，换薄膜更方便。

Ø 软件技术：

ð 分析元素：Na~U之间元素。

ð 分析时间：60~400秒。

ð 配置RoHS检测分析模型、无卤分析模型和镀层厚度分析模型。

ð 软件界面简洁，模块化设计，功能清晰，易操作。

ð HeLeeX ED Workstation V3.0软件拥有数据一键备份，一键还原功能，保护用户数据安全。

ð HeLeeX ED Workstation V3.0根据不同基体样品，配备三种算法，增加样品测试精准度。

ð HeLeeX ED Workstation V3.0配备开放式分析模型功能，客户建立自己的工作模型。

 

镀层测厚仪器硬件配置

 

1、探测器

Ø 类型：Si-PIN探测器（采用原装风进口高性能电致冷半导体探测器）

Ø 进口探测器

Ø Be窗厚度：1mil

Ø 晶体面积：25mm2

Ø 最佳分辨率：149eV

Ø 信号处理系统DP5

 2、X射线管

Ø 电    压     ：0~50kV

Ø 最大电流     ：2.0mA

Ø 最大功率     ：50W

Ø 靶    材     ：Mo

Ø Be窗厚度    ：0.5mm

Ø 使用寿命     ：大于2万小时

 

3、高压电源

Ø 进口高压电源

Ø 输出电压：0~50kV

Ø 灯丝电流：0~2mA

Ø 最大功率：50W

Ø 纹波系数：0.1%（p-p值）

Ø 8小时稳定性：0.05%

 

3.4、摄像头

Ø 微焦距

Ø 免驱动

Ø 500万像素

3.5、准直器、滤光片

Ø 快拆卸准直器、滤光片系统

Ø 多种材质准直器

Ø 光斑大小Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ3.0mm、Φ5.0mm

Ø 多种滤光片、准直器组合，软件自动切换