●美国原装高灵敏电制冷Si(Pin)探测器
●电制冷Si(Pin)探测器 晶体面积15mm2分辨率<155eV
●全数字脉冲处理器技术
●优异的峰背比、极高的痕量分析灵敏度
● 50KV,50瓦,自防护X-射线管
●多滤光片智能识别技术
●镀层和薄膜测量技术
●高性能，操作简便的XRF软 件
主要特点
●分析元素范围 Cl－Ｕ
●分析元素的浓度范围 ppm—100%
●整机稳定性连续8小时测RSD<0.25%
● RoHS/WEEE检测时间100-120秒
●样品类型： 固体，液体，粉末，镀层及其他..
应用领域：
●应对RoHS & WEEE指令分 析
●各种金属膜厚度测量、工业镀层厚度测量
●卤素指令Cl元素分析
●矿石、原材料成份分析等
●磁性磁性介质和半导体，各种合 金、贵金属成份分析
技术规格
仪器型号 | EDX-600能量色散X射线荧光光谱仪 |
分析原理 | 能量色散X射线荧光分析法 |
分析范围 | Na(11)-U(92)任意元素 |
检出下限 | Cl/Cd/Hg/Br/Cr/Pb≤2 ppm |
样品形状 | 任意大小，任何不规则形状 |
样品类型 | 塑胶/金属/薄膜/粉末/液体等 |
X射线管 | 靶材 | 钼（Mo）靶 |
管电压 | 5─50KV |
管电流 | 1─1000ｕA |
探测器 | 美国AMP-TEK X-123 Si-PIN探测器，高速脉冲高度分析系统 |
高压发生器 | 美国SPELLMAN高压发生器 |
滤光片 | 8种滤光片自动选择并自动转换 |
样品观察 | 500万彩色摄像机 |
分析软件 | 专利软件产品 MS-V6.0版本，终身免费升级 |
分析方法 | Alpha系数法（NBS-GSC法）、FP法、标准曲线法 |
符合规范 | IEC62321、 SNT 2003.4-2006 、SNT 2003.5-2006 |
