TESCAN 聚焦离子束扫描电子显微镜  聚焦离子束扫描电镜
双束聚焦扫描电镜FIB-SEM


FIB-SEM
双束电镜（FIB-SEM）是一款集成了电子束和离子束的电子显微镜系统。SEM 镜筒提供高分辨成像能力，FIB 镜筒能在成像的同时对样品进行加工处理。双束电镜系统开创了一种全新的应用方式。


双束电镜系统的配置使得电子束和离子束的聚焦点重合，这在很多应用中可以获得蕞优化的结果。这一特点也使得仪器在完成 FIB 铣削任务的同时，可以进行 SEM 实时成像----这对于精度要求极高的 FIB 操作有很大帮助，使得操作性能和工作效率实现重大飞跃。


TESCAN 提供两种不同的 FIB 离子源：镓离子和氙等离子体。Ga 离子源 FIB 适用于所有在制造和纳米加工中需要极高精度的应用。另一方面，Xe 等离子体 FIB 具有超高离子束流，能够以高于 Ga-FIB 50倍的效率去除大量材料。在精度方面，我们的高分辨率 Xe 等离子 FIB 可以实现< 15 nm的分辨率，适用于同时要求高效率和高精度的精细加工任务。 


主要型号：
TESCAN AMBER
TESCAN SOLARIS
TESCAN AMBER X
TESCAN SOLARIS X



我们提供多种配置的 FIB-SEM 系统，能够满足从常规工业应用到先进和具有挑战性的工艺应用，这些应用要求在成像和微/纳米机械的复杂工作流程方面达到很高的标准。

TESCAN AMBER 是一款双束（FIB-SEM）聚焦扫描电镜系统系统，可以满足现今工业研发和学术界研究的所有需求，在提供良好的图像质量的同时，可完成复杂的纳米操作并保证高精度和操作灵活性。


TESCAN AMBER 配置了新的 BrightBeam™ 镜筒，真正的无磁场超高分辨（UHR）可以蕞大化的实现各种分析，包括磁性样品的分析，以及在 FIB 操作时 SEM 的实时监测。另一方面，创新的 Orage™  FIB 镜筒配有先进的离子光学系统和气体注入系统，使得 TESCAN AMBER 成为了先进的样品制备和纳米加工的仪器。


模块化、基于工作流的软件确保了在所有应用中都能蕞大程度进行操控，不需要在复杂的技术之间进行取舍，用户界面友好。因而 TESCAN AMBER 是FIB-SEM应用的理想选择，也是所有追求日常科学和技术突破的人士的理想分析平台。