简单介绍
XRF用Si PIN探测器按封装形式分为XPIN-XT和XPIN-BT两个系列，转为XRF应用。XPIN-XT系列包括探测器和前置放大器，成本低廉，封装形式多样；XPIN-BT系列则集成了温度控制和供电部分，既可配合Moxtek的MXDPP-200数字脉冲处理器使用，也可与用户自己的DPP配套XRF用Si PIN探测器 的详细介绍
专注于为国内XRF设备提供完整解决方案，包括XRF用Si PIN探测器、光源、光窗等产品一应俱全。 XRF用Si PIN探测器的型号及参数 产品指标 XPIN-XT系列 XPIN-BT系列 Si PIN探测器面积 6 mm2 或 13 mm2 6 mm2 或 13 mm2 硅片厚度 625μm 625μm 铍窗厚度 8μm 或 25μm 8μm 或 25μm 准直器材料 W/Co/Ti/Al W/Co/Ti/Al 能量分辨率 6 mm2 < 170eV FWHM 6 mm2 < 170eV FWHM 13 mm2: < 230eV FWHM 13 mm2: < 230eV FWHM 峰背比 6mm2: 3600/1 @ 1keV (typical) 6mm2: 3600/1 @ 1keV (typical) 13mm2: 3000/1 @1keV (typical) 13mm2: 3000/1 @1keV (typical) Si-PIN探测器特点 特点 带给用户的好处 能量分辨率高 更容易区分不同的材料，不同的元素 Be窗厚度薄 有利于测量轻元素 探测器硅片更厚，计数率高 有利于测量重元素 尺寸小，梯形外形设计，结构紧凑 X光管，探测器和样品可以更紧密贴在一起 封装形式多样 用户的选择性更大 X射线窗 Moxtek公司生产的X射线窗产品是当前世界上商用产品中性能最好的，适用于分析低能的X射线，对低能量的X射线有很高的透过率。 Moxtek公司光窗具有以下特点： 特点 带给用户的好处 极薄的聚合物窗口 对低能量射线有很高的透过率 硅材料支撑结构 机械强度高，耐久性好 全部反射紫外，可见和红外光 噪声很低 双层镀膜 耐腐蚀，密封性好 厚度均匀 窗口的透过率的一致性很好 材料的纯度很高 不会污染入射光光谱 JFET产品 MOXTEK公司可以提供MX系列JFET小信号放大器，可用于微弱信号探测，通信等领域
