【产品编号】0218
【产品类别】->X-RAY膜厚仪->FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B
【产品品牌】

产品说明

技术参数
 
1.Fischerscope X-RAY XDL是采用根据技术标准DIN50987，ISO3497和ASTM B568的X-射线荧光测试方法；
2.原始射线从上至下； 
3.X-射线管高压设定可调节至最佳的应用：50kV，40kV或30kV； 
4.单个0.3mm直径(12 mils)的标准视准器，在附加费用的基础上可选择0.05×0.3 mm(2×12 mil)带槽视准器；或直径0.1mm;或直径0.2mm；或0.4X0.4mm方形。
5.测量箱外部尺寸：（高×宽×深）650 mm×570 mm×740 mm（26〞×22〞×29〞），重量大约为105kg（120lbs）； 
6.带槽箱体的内部尺寸：（高×宽×深）300 mm×460 mm×500 mm（12〞×18〞×20〞）带向上回转箱门； 
7.嵌入式固定的测试件支承板，需要时可移去以适用于大件的超出尺寸的测试工件。 
8.从X-射线头部（X-射线管，成比例的反射接收器及视准器）至测试件平面支承板有三种可选择的固定距离。需要的设定距离（见背面）必须在定货时明确（标准设定：中间位置） 
9.试件查看用彩色摄像机 
10.带有LED状态指示灯的测量开始/结束按钮与测试箱集成在一体

主要特点

FISCHERSCOPE® XDL®-B是一款基于Windows® 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。测量方向从上往下。 

XDL®-B 的特色是独特的距离修正方法。DCM方法（距离控制测量）自动地修正在不同的测量距离上光谱强度的差别。对于XDL®-B 带测量距离固定的X-射线头，这一特性提供了能在复杂几何外形的测试工件和不同测量距离上实现简便测量的可能性。特别针对微波腔体之类样品的底部镀层厚度进行测量。
 
仪器介绍:
  
适用于Windows®2000或Windows® XP的真Win32位程序带在线帮助功能。 
频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的产品。 
能通过“应用工具箱”(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成)使应用的校准简单化。 
画中画测试件查看和数据显示，带快速移动焦距功能放大试件图像；计算机生成的刻度化的瞄准十字星，并有X-射线光束大小指示器（光束的大小取决于测量的距离，见背面）
图形化的用户界面，测试件的图像显示可插入于测试报告中 
对试件与视准器之间的距离进行视觉控制的校正（DCM方法）范围可达80mm(3.2〞)
 
测量模式用于：
 
单、双及三层镀层系统 
双元及三元合金镀层的分析和厚度测量 
双层镀层，其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析（两层的厚度和合金成分都能被测量） 
能分析多达四种金属成分的合金，包括金的开数分析的特殊功能。对电镀溶液的分析能力可达包含一或二种阳离子的电镀液。 
可通过RS-232接口或使用网络环境控制命令设定数据的输出和输入以实现系统的远程控制。 
通过使用可选择的带合成条形码读入器的键盘实现产品选择。 
可编程的应用项图标，用于快速产品选择。 
完整的统计功能，SPC图，标准的概率图和矩形图评估。 
报告生成，数据输出 
语言可选择：英语，德语，法语，意大利语，西班牙语，及中文 
菜单中的某些选择项可授权使用