平板探测器设备
:是用于电子产品,电子元件,半导体元器件,BGA,IC芯片,CPU,电热丝,发热盘,热敏电阻,电容,集成电路,电路板等无损检测.检测电子元件内部是否变形、脱焊；空焊等，如可用于塑料汽泡等检测,皮革品金属异物检测,断针等检测.矿山皮带检测,安全检查等设设.X射线平板探测器，可用来替换现有放射成像中应用的标准清晰度。此探测器旨在用于移动系统中，但也适合在现有的 14 x 17 英寸胸片架成像系统中使用
数字放射成像
产品手册： | 4336R数字放射成像（工业） | |
有效区域： | 43x36厘米（14x17 英寸） |
像素大小： | 139微米 |
有效矩阵： | 3072 x 3072 |
填充因子： | 100% |
帧率： | 6 - 8秒 |
最大能量： | 150千伏 |
联系人:杨先生15901908250电话:021-60542628
邮箱:SH3311@ 业务 QQ:2499491613
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