一、技术指标: 分 析 范 围: 1PPM-99.99% 同 时 分 析: 几十种元素同时分析 测量镀层：镀层厚度测量至0.005微米 测 量 对 象: 固体、粉未、液体 测 量 时 间: 60-300 秒 测 量 精 度 : 0.05% 分 析 元 素: Na-U 工 作 温 度: 15-26℃ 相 对 湿 度: ≤70% 重 量 : 100KG 功 耗: 200瓦 二、仪器配置： 多样自动进样系统 计算机、喷墨打印机 真空泵（可选） 压片机（可选） 硅针半导体探测器 放大电路 高低压电源 X光管 网站地图 | 友情链接 | 法律声明 | 联系我们 | 工作机会