一、产品简介
UTX650是一款经济、实用、操作简便的X射线荧光光谱仪，适用于：
五金、接插件、电气连接器电镀，PCB电镀，塑料、ABS、镁铝合金电镀；含量普通的合金材料分析。镀液分析。
镀层厚度检测
五金、接插件、电气连接器电镀Au、Ag、Sn、Ni、Cu、Zn、Cr、NiP、SnPb合金、SnCu合金、ZnNi合金、AuPdNi合金等；
PCB电镀Au、Ag、Cu、Ni、NiP、SnPb合金等
塑料、ABS、镁铝合金电镀Au、Ag、Sn、Ni、Cu、Zn、Cr、NiP等
合金材料分析
不锈钢中的Fe、Cr、Ni、Mo等成分
黄铜中的Cu、Zn、Pb等成分
磷铜中的Cu、Zn、Sn、Pb等成分
焊锡中的Sn、Pb等成分
镀液分析
电镀液中Au、Ag、Cu、Ni、Cr、Zn、Sn的主盐的浓度
二、产品特点
1、从K到U的快速元素分析、金属镀层厚度检测
2、检测灵敏度0.01%到100%；镀层0.02um到40um
3、测量时间短，每个测量只需10-60秒
4、15-20 倍彩色CCD系统用于样品图像观察
5、有多种形状和多种规格的准直器可供选用
6、大窗口正比计数器，提高测量稳定性
7、机械结构简单，可靠
8、FP基本算法软件
9、灵活的应用分析软件
10、仪器安装简单、快速
三、技术指标
1、产品执行标准：DIN50987、ISO3497、ASTN.D568
2、产品参数：
测定原理 | 能量色散型X射线荧光分析法 |
测定对象 | 固体、液体、粉状 |
测量功能 | 单镀层、合金镀层、多镀层测厚、最多可测5层； |
元素分析(材料成份分析) |
镀液分析(电镀药水主盐成份分析) |
测量极限 | 镀层厚度：0.02um，元素分析：100ppm |
厚度测量范围 | 0.02-40 um，(W、Au、Pb)10μm、(Cu、Zn、Ni、Cr、Sn)40um， |
厚度测量误差 | 第一层小于±5%，第二层小于±10%，第三层小于±15% |
元素分析测量范围 | 可测元素K19-U92， |
测试时间 | 测厚：10-60s，元素分析：10-60s |
X射线发生部分 |
X光管产地及品牌 | 美国(OXFORD) |
X射线管靶材 | W靶、Rh、Mo、Ag、Cr靶材可选 |
X射线管窗口 | 铍窗 |
电气参数 | 50W、4-50kV，0-1000uA |
冷确方式 | 硅脂冷却 |
X射线照射方式 | ↓X射线从上向下照 |
照射面积 | 最小的光斑φ0.1mm |
使用寿命 | 15000-20000h |
探测器 |
探测器产地及品牌 | 美国（LND） |
制冷方式 | 电制冷(-1900C) |
分辨率 | Mn的半峰宽760eV |
探测窗口 | 铍窗、窗口面积：400mm2 |
高压电源 |
高压包产地及品牌 | 美国(SPELLMAN) |
输入电压 | 24VDC±10%、 |
输出电压 | 0-50kV、0-2.0mA，输出精度0.01% |
备注 | 有自动软件侦测功能 |
光路系统 |
准直器系统 | 单一准直器φ0.1mm、 |
对焦系统 | 激光镭射对焦 |
滤光器 | 多种滤光器(Ni、Cu、Mo、Al、Ti) |
样品观察系统 | 300万象素高清CCD摄像头，20倍光学变焦。 |
样品室 |
样品室内部空间（mm） | （宽×高×深）：450×160×400mm |
样品台尺寸 | （宽×深）：250×275mm |
样品台承载重量 | ≤5kg |
试验样品最大尺寸 | 宽×高×深：440×150×390mm。 |
样品台控制方式 | 手动样品台 |
工作台移动技术数据 | X=200±5、Y=200±5、Z=160±5mm |
数据处理系统 |
控制计算机 | 联想品牌机M7150，1G内存，160G硬盘 |
显示器 | 联想17寸LCD显示器 |
报告结果 | Word、PDF格式 |
软件 | 操作系统：WindowsXP、OEM简体中文版 |
镀层测厚软件、元素分析软件 |
软件语言 | 简体中文、繁体中文、英文、其它 |
仪器包装参数 |
设备主体尺寸（mm） | 宽×高×深：W580×H600×D715mm |
主体重量 | 约60kg |
使用环境 |
工作环境 | 温度15-250C，湿度40-70%RH |
电源系统 | 单相220V±10%，工作电压在充许范围内 |
其它 | - 不要靠近产生强磁场，电场，高频等装置
- 减少振动
- 粉尘少，湿度低，无腐蚀性气体
- 日光不能直射
- 作为地震的对策，要考虑装置的固定
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