编号：WD-7003

‹  【特点】

1.非电流式测量 

‹2.样本间距：1-25mm 

‹3. 测量标准范围：0.5-20Ω/□ 

‹4.  触摸屏显示 

‹5. 微处理器控制 

6.自动校准功能 

‹7.极值监控 

‹8.不同的测量单元（Ohms/Siemens） 

‹9.自动调节校准功能 

‹10.峰值指示器 

‹11.串行接口（可接 PC 机或打印机） 

‹12.设计紧凑健壮 

本仪器用来测量塑料薄片、纸张、玻璃镀膜等绝缘表面膜层的方块电阻值，即便

是嵌入玻璃、塑料中的膜层也可以用这种仪器进行测量（甚至嵌入 30mm 的也可

测量），特殊的非接触式测量方法使测量可以轻松实现。 

非接触式测量方法可以测出光学密度值 OD，方块阻值 Siemens,Ω/□，从而表征

玻璃膜层或塑料膜层的红外光学性能值，该测量方法为非接触式测量，不需要接

触膜层，从而避免划伤膜层。 

本仪器拥有不同的功能可以方便的进行测量、控制、监视质量： 

校准、自我修正、公差监视等等。最后的测量结果可以冻结显示（冻结功能按钮），

最小值、最大值可以自动存储。 

USB（2.0）串行接口（V.24、RS-232C）能够进行打印或将测量数据传输给计算

机。该仪器可用于实验室或生产现场进行质量控制。