ZLDS/N-100具有100微米的量程和15纳米的分辨率,是一款非接触式高精度光学位移传感器。其起始测量距离为3mm,对于被测体有较宽的适用范围,比如金属,半导体和玻璃。该传感器可以很容易与现有设计相接合,而且具有较大的基准距,其测量精度实际相当于一个高分辨率的电容传感器。对于定点测量,振动测量,表面轮廓测量,ZLDS/N-100都是一款理想的测量工具。应用领域 | 应用于光盘、硬盘的在线检测,还可以应用于电机等强磁场测振和表面轮廓测量。 | | 主要特点 | ◆ | 高分辨率,可替代电容式传感器; | ◆ | 对电磁场不敏感,可用于电机等强磁场测振; | ◆ | 宽频带,可测高频振动体; | ◆ | 对被测体表面要求低,反射率4~100%均可用; | | | |
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技术规格安装尺寸 技术参数 | ZLDS/N-100 | 量程μm | 100 | 分辨率nm | 15 | 线性度μm | ±5 | 重复性nm | ±75 | 信号接收范围μm | ±400 | 带宽KHz | 100 | 允许表面反射度% | 4~100 | 传感器探头基准距mm | 3.0 | 垂直容忍度 | ±0.1° | 供电 | ±12VDC @80mA | 传感器体长mm | 58.7 | 测量点直径μm | 100 | 控制器尺寸mm | 98x32x13 | 电缆长度mm | 460 |
◆技术规格可按客户要求定制。 ◆我们保留规格变化而不另行通知的权利。 |