供应武汉尚测SC/GDW武汉高温老化试验箱
武汉尚测试验设备有限公司
中国 武汉
产品属性
图文详情
品牌推荐
类型
高温试验箱
品牌
武汉尚测
型号
SC/GDW
温度范围
详情参考产品说明书℃
工作室尺寸
详情参考产品说明书mm
温度控制方式
温控仪表
武汉高温老化试验操作实用规范
以下信息由武汉尚测拟稿人员提供，如需摘要请注明
www.suncek.com
一、高温老化试验范围：
本规范规定了公司半成品、产品及主要功能模块的高温老化过程及操作规则。
本规范适用于公司需进行高温老化的产品。
二、高温老化筛选目的：
为提高产品可靠度,消除加工应力和残余溶剂等物质，模拟严酷工作环境，以鉴别和剔除产品工艺
和元件引起的早期故障，确保整机优秀品质和期望寿命，进入高可靠的稳定期。
三、高温老化试验基本要求：
3.1 高温老化筛选对象
3.1.1 进行老化试验的产品应是装配调测合格品；
3.1.2 公司半成品、产品及主要功能模块。
3.2 模拟状态要求
3.2.1 为保证产品的性能稳定可靠，老化时应模拟产品工作状态；
3.2.2 当老化的产品需输入信号时，应在额定输出功率状态下进行，同时做好散热措施。
3.2.3 对于射频设备应：
a)设备的信号线和负载线的接入、接出应按照基本操作要求进行,并模拟设备的实际工作状态；
b)设备输出端应与阻抗匹配的负载相连，负载的额定功率应不小于整机额定输出功率2 倍～3 倍；
c)在信号源和设备之间，应加上隔离器或环形器；
d)严禁将大功率功放的输出信号通过合路器合路再进入负载的连接方式。
四、老化前的准备及注意事项：
a) 老化前应确认高低温试验箱设备是否完好；
b) 当多台老化产品一起进行试验时，各老化产品之间应有足够的间隙，以使高低温试验箱内温度有足够的均匀性。
不应将老化产品堆积或摆放无序，以免影响老化效果和对产品造成损坏。
五、高温老化温度和时间：
高温老化温度、时间如下所示可任选一种：
a)室温条件下通电连续老化不得少于 96 h；
b)40℃±2℃条件下通电连续老化不得少于72 h；
c)45℃±2℃条件下通电连续老化不得少于48 h；
d)50℃±2℃条件下通电连续老化不得少于24 h；
e)55℃±2℃条件下通电连续老化不得少于12 h。
六、高温老化程序：
6.1对老化产品施加产品标准中规定的工作电压。
6.2在老化产品通电的状态下将高低温试验箱的温度加热至规定的试验温度，老化过程中的环境温度变化应
在规定温度的±2℃范围内。
6.3 老化温度达到规定值，恒温后开始计时。
6.4 老化过程中应每隔2 h 查看老化室的运行是否稳定，特别是测量温度。老化过程中发现温度异常
时，应立即切断电源。待老化室恢复正常后再继续进行老化。
6.5 老化产品在老化过程中应定时进行主要性能指标检测，具体指标种类及参数在转产文件的技术说
明中规定。
a)常规产品老化,每 5h～6h 测试一次,并记录测试时的温度；
b)常规产品老化，采用抽测方式，每次测试的产品应不少于 10％；
c)遇到所测型号设备存在问题时，应根据实际情况，增加该类产品的检测数量，并不少于
10％。
6.6 老化过程中产品出现故障时，应在附录A 的备注栏中详细记录故障情况。
6.7 老化后的产品在室温下至少放置2 h 后，由生产计划部进行复测，并做好测试记录，合格后提交
检验部门检验。
6.8 单盘的测试在老化后进行，测试项目包括监控功能、输出电压值等。抽测数量应不少于20％，如
老化后有不合格的试验样品，该批次需全部测试。
注：本规范中的单盘指直接提供给用户的单盘或模块。
七、标识：
a）老化测试合格的产品，应在产品易观查的表面用绿色标签做标识；
b）老化测试不合格的产品，应在产品易观查的表面用红色标签做标识。
八、测试记录：
8.1 根据测试的项目填写老化测试记录，见附录A。
8.2 单盘老化测试记录见附录B。
8.3 老化测试记录表应每月由指定人员归档。
九、高低温试验箱老化设备维护要求：
9.1 老化试验的所有测试器件应定期进行测试检验，
9.2 所有老化设施的检测应每月进行一次,主要检测项目为：
——老化设备高低温试验箱温控系统的校应；
——老化负载的驻波比测试；
——信号源的输出信号准确度的测试；
——电源的输出电压测试。
9.3 测试结果应记录，要有正规的、统一的格式。
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一、高温老化试验范围：
本规范规定了公司半成品、产品及主要功能模块的高温老化过程及操作规则。
本规范适用于公司需进行高温老化的产品。
二、高温老化筛选目的：
为提高产品可靠度,消除加工应力和残余溶剂等物质，模拟严酷工作环境，以鉴别和剔除产品工艺
和元件引起的早期故障，确保整机优秀品质和期望寿命，进入高可靠的稳定期。
三、高温老化试验基本要求：
3.1 高温老化筛选对象
3.1.1 进行老化试验的产品应是装配调测合格品；
3.1.2 公司半成品、产品及主要功能模块。
3.2 模拟状态要求
3.2.1 为保证产品的性能稳定可靠，老化时应模拟产品工作状态；
3.2.2 当老化的产品需输入信号时，应在额定输出功率状态下进行，同时做好散热措施。
3.2.3 对于射频设备应：
a)设备的信号线和负载线的接入、接出应按照基本操作要求进行,并模拟设备的实际工作状态；
b)设备输出端应与阻抗匹配的负载相连，负载的额定功率应不小于整机额定输出功率2 倍～3 倍；
c)在信号源和设备之间，应加上隔离器或环形器；
d)严禁将大功率功放的输出信号通过合路器合路再进入负载的连接方式。
四、老化前的准备及注意事项：
a) 老化前应确认高低温试验箱设备是否完好；
b) 当多台老化产品一起进行试验时，各老化产品之间应有足够的间隙，以使高低温试验箱内温度有足够的均匀性。
不应将老化产品堆积或摆放无序，以免影响老化效果和对产品造成损坏。
五、高温老化温度和时间：
高温老化温度、时间如下所示可任选一种：
a)室温条件下通电连续老化不得少于 96 h；
b)40℃±2℃条件下通电连续老化不得少于72 h；
c)45℃±2℃条件下通电连续老化不得少于48 h；
d)50℃±2℃条件下通电连续老化不得少于24 h；
e)55℃±2℃条件下通电连续老化不得少于12 h。
六、高温老化程序：
6.1对老化产品施加产品标准中规定的工作电压。
6.2在老化产品通电的状态下将高低温试验箱的温度加热至规定的试验温度，老化过程中的环境温度变化应
在规定温度的±2℃范围内。
6.3 老化温度达到规定值，恒温后开始计时。
6.4 老化过程中应每隔2 h 查看老化室的运行是否稳定，特别是测量温度。老化过程中发现温度异常
时，应立即切断电源。待老化室恢复正常后再继续进行老化。
6.5 老化产品在老化过程中应定时进行主要性能指标检测，具体指标种类及参数在转产文件的技术说
明中规定。
a)常规产品老化,每 5h～6h 测试一次,并记录测试时的温度；
b)常规产品老化，采用抽测方式，每次测试的产品应不少于 10％；
c)遇到所测型号设备存在问题时，应根据实际情况，增加该类产品的检测数量，并不少于
10％。
6.6 老化过程中产品出现故障时，应在附录A 的备注栏中详细记录故障情况。
6.7 老化后的产品在室温下至少放置2 h 后，由生产计划部进行复测，并做好测试记录，合格后提交
检验部门检验。
6.8 单盘的测试在老化后进行，测试项目包括监控功能、输出电压值等。抽测数量应不少于20％，如
老化后有不合格的试验样品，该批次需全部测试。
注：本规范中的单盘指直接提供给用户的单盘或模块。
七、标识：
a）老化测试合格的产品，应在产品易观查的表面用绿色标签做标识；
b）老化测试不合格的产品，应在产品易观查的表面用红色标签做标识。
八、测试记录：
8.1 根据测试的项目填写老化测试记录，见附录A。
8.2 单盘老化测试记录见附录B。
8.3 老化测试记录表应每月由指定人员归档。
九、高低温试验箱老化设备维护要求：
9.1 老化试验的所有测试器件应定期进行测试检验，
9.2 所有老化设施的检测应每月进行一次,主要检测项目为：
——老化设备高低温试验箱温控系统的校应；
——老化负载的驻波比测试；
——信号源的输出信号准确度的测试；
——电源的输出电压测试。
9.3 测试结果应记录，要有正规的、统一的格式。
