带连接线,分体式涂层测厚仪Leeb222,可测量铁基与非铁基上涂层的厚度。
以下是Leeb222的技术参数,
涂层测厚仪技术参数 | Leeb222 |
测头类型 | F1或N1 |
工作原理 | 磁感应或电涡流 |
测量范围 | 0~1250μm |
低限分辨率 | 0.1μm |
示值误差 | 一点校准 | ±(3%H+1) |
二点校准 | ±[(1~3%)H+1] |
测试条件 | 最小曲率半径mm | 凸5、凹10 |
最小面积直径mm | Φ7 |
基本临界厚度mm | 0.5 |
工作环境 | 温度 | 0~40℃ |
湿度 | 20%~90% |
电源 | AAA型碱性电池1.5V两节 |
外形尺寸 | 150×55.5×23mm(主机) |
重量 | 120g(不含电池) |
标准配置 | 主机、标准试片、基体、AAA型碱性电池 |
选配 | 多种探头 |