日本日置HIOKI3505电容测试仪的使用方法：
采用桥式电路结构，标准电容器和被试电容器作为桥式电路的两臂。当进行电容器电容值测量时，测试电压同时施加在标准电容器和被试电容器上，处理器通过传感器同采集流过两者的电流信号并进行处理后得也被试电容器的电容值。由于采用标准电容器、被试电容器同步采样技术，可不受电源电压波动的影响；加之测量过程是全自动进行的，避免了手动操作引起的误差。
日本日置HIOKI3505电容测试仪特点：
C、(tan δ), Q项目测试
能以恒定电压测量大容量的多层陶瓷电容
测试源频率: 1kHz, 100kHz, 1MHz,
高速测量: 2ms
对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试
反复测量精度更高，最适合生产线
校正维修功能，减低由环境的温度变化影响
测量导线的过长引起的阻抗变化，阻抗补正功能
比测仪的设定值和测定值的同步显示
日本日置HIOKI3505电容测试仪特性:
2ms的高速测量；1kHz,1MHz 测量
根据BIN的测定区分容量
比测仪和触发器同步输出功能
输入用探头/测试夹具，实体不附带。
按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件。
日本日置HIOKI3505电容测试仪技术数据：
测量参数 | C（电容）,D（损耗系数tanδ）, Q (1/tan δ) |
测量范围 | C:0.000fF ～15.0000mF
D: 0.00001 ～1.99999
Q:0.0 ～19999.9 |
基本确度 | （代表值）C:±0.14% rdg. D: ±0.0013
※测定确度= 基本确度× B× C× D× E, B～Eは各系数 |
测量频率 | 3505: 1kHz, 100kHz, 1MHz, 3506: 1kHz, 1MHz |
测量信号电平 | 500mV, 1V rms |
输出电阻 | 1Ω (在2.2mF以上的测量范围: 1kHz;在22nF以上的测量范围: 100kHzs), 20Ω 上述测量范围以外) |
显示 | LED(6位显示,满量程由点数有效距离来决定) |
测量时间 | 代表值: 2.0 ms （FAST）
※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同 |
机能 | BIN 分选测量功能, 触发同步测量, 设定测量条件保存功能, 比较器测量功能,平均机能, Low-C抵抗机能, 震动机能,电流检测功能,输入电压检测机能,EXT I/O输入/输出, RS-232C接口, GP-IBイ接口 |
电源 | AC 100/120/220/240V ±10%（可选择）, 50/60Hz, 最大40VA |
体积及重量 | 260W × 100H × 298Dmm, 4.8kg |
附件 | 电源线× 1, 电源备用保险丝× 1 |
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