EDX-2800 型X荧光分析仪
EDX-2800型 X荧光分析仪具有分析精度高、测试速度快、测试简单等优点。可完全满足RoHS/WEEE相关管控要求，符合国际电工委员会IEC62321标准及中国环保标准所规定的技术要求和技术规范。
应用领域：
1．分析从硫（S）到铀（U）之间的Cu、Pb、Fe、Ni、Mn、Zn、Sn、Bi、Sb、As等元素。
2．对RoHS指令中有害元素（Pb，Cd，Hg，Br，Cr）进行精准测试及无卤测试。
3．金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定分析。
性能特点:
1.检测样品为规则样品与不规则样品，包括块状、片状、线状。样品类型为塑胶、金属、粉末、液体。
2.高压电源。最大功率50 W。电压0 -50 KV，电流0-1000uA。
3.高效X光管。最大功率50W，管压5-50KV ；管流电流0-1000uA。
4.进口原装电制冷Si-Pin探测器。良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比。
5.高信噪比的电子线路系统。
6.八个准直器和四个滤光片的电动组合，软体自动切换，满足各种测试方式的应用，降低分析元素附近的背景强度，提高分析最低限。
7.多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制，提高分析准确度。
8.内置高清晰摄像头，有效的实时观察测试区域状况，并拍下物料照片，作为检测报告的组成部分。
9.载物测试平台，配有微调装置，实现检测物的定位与检测区域的最理想调整。
10.小样品腔尺寸(闭仓门测试)：460×298×150mm。大样品腔尺寸(开仓门测试)：无限制，部分取代手持式功能。
11.高效三维散热系统：大幅度提供仪器的可靠性、稳定性。
12.辐射安全系统：隐蔽式设计、软件、硬件三重射线防护系统。
13. 分析软件：国际领先的XRF分析软件，融合了包括经验系数法、基本参数法（FP法）、理论α系数法等多种经典分析方法，全面保证测试数据的准确性。
技术指标：
1.测量元素范围：从硫（S）到铀（U）。
2.元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）。
3.同时分析元素：一次性可测几十种元素。
4.测量时间：60秒-200秒。
5.样品类型：塑胶、金属、粉末、液体。
6.最低检出下限：Cd/Cr/Hg/Br≤2 ppm, Pb≤5 ppm 。
7.工作环境：温度为温度 15～30℃ 湿度 ≤85% （不结露）。
8.电源：交流220V±5V,选配高精度参数稳压电源。
9.最佳分辨率能达到149eV±5。
10.样品腔尺寸：460×298×150mm。
11. 外观尺寸：550×416×333mm。
12.电源：AC 220V～240V、50Hz。
13.额定功率：800W。
14.重量：约45KG.
主体配置：
1.高效薄窗X光管（W或Mo靶）。
2.高压电源。
3.原装美国高性能电制冷Si-Pin半导体探测器。
4.大样品测量腔。
5.移动平台。
6.光路增强系统。
7.高信噪比电子线路系统。
8.高清晰摄像头。
9.自动切换型准直器和滤光片。
10.三重安全保护模式。
11.整体钢架结构，力度可靠的保证。
12.名牌计算机、液晶显示器、激光打印机。
13.分析软件。
14.标准物质：银校正标样等。
15.仪器的其它配置：样品杯 、测试薄膜、保险丝。
