1 概述
TCD-03测宽控制系统基于光学成像原理,运用CCD线阵图像传
感器成像技术,结合高速专用的MCU开发,实现在线同时检测
两片物料,并在检测单片物料时可以进行对中或对边的控制;广
泛应用于各种工业生产线上。
2 功能与特点
采用新一代 位 架构工业级处理器,
测量精度高,速度快, 对图像信号进行全数字化处理。
背光源采用高亮度白色 阵列,发光效率高,寿命长。
触摸式液晶屏显示,操作方便,使用简洁明了。
采用 , 协议,满足大部分工业使用场合。
可以同时测量两条材料宽度。
检测单条材料宽度时,可以同时进行对中、对边等定位控制
3 系统构成
1)TCD-003 CCD传感器
2) DO 1030- LED数码管显示器
3)背光源
4)传感器调节架
5)线缆