金埃谱科技是国内最早参与比表面积标准物质标定的机构,致力于全自动比表面（积）及孔径分布测定孔隙度测量孔容积分析孔结构检测孔隙率测试研究，并获取上海计量院检测证书，让您选购的产品无后顾之忧!
测试方法及功能:真空容量法（真空静态法）,吸附及脱附等温线测定,BJH总孔体积及孔径分布分析,样品真密度测定,t-plot图法微孔分析,MP法微孔分析,HK法微孔分析,BET法比表面积测定（单点及多点）,t－plot图法外比表面积测定
测定范围:0.01（m2/g）——至无上限（比表面积）;0.35nm-300nm（孔径）
真空系统:集装式管路及电磁阀控制系统;同时集装式管路减少了连接点.
液位控制:独创的液氮面控制系统,确保测试液氮面相对样品管位置不变.
压力精度:进口硅薄膜压力传感器,精度达实际读数的0.15％,优于全量程的0.15％

A.真空系统
1)独创的一体化集装式管路系统,采用进口集装管路,可减少管路连接点.
2)模块化结构设计,需人工进行连接的部件少,有利于维修更换.
3)中德合资的真空泵,极限真空度高,可达4x10－2Pa (3x10－4Torr)
B.控制系统
1)采用广泛应用于工业控制系统中的可编程控制器电磁阀控制系统;
2)独特设计的测试系统管路和样品处理管路分离结构.

A.提高测试精度措施
1)采用进口的高精度硅薄膜压力传感器,压力测量精度为相应读数的0.15％
2)与国外同类产品类似,采用0－10Torr和0－2000Torr双压力传感器;
B.数据采集及处理
1)采用高精度及高集成度数据采集模块;同时采用业界标准的485通讯模式,可方便转换为所需的RS232和USB通讯模式;
2)多种理论计算模型数据分析;强大的测试数据归档保存,查询系统,有利于用户数据管理.