测量矿种:各种金属、非金属、贵重金属和稀有金属矿

例如：铁矿、铜矿、锌矿、钛矿、钒矿、铬矿、锰矿、钴矿、镍矿、铅矿、钼矿、镁矿、铝矿、

银矿、金矿、铂矿、硫矿、砷矿、硒矿等

主要应用

主要分析矿体、矿块、矿粉、矿渣、精矿、粗矿、尾矿；

还可分析沉淀物、填料、土壤、泥土、泥浆；粉尘、灰尘、过滤物、薄膜层等。

简体中文界面

Windows Mobile5.0操作系统

开机后不需校准就可直接测量

采用布鲁克专利技术的XFlash®SDD检测器

分析元素最小从Mg开始，达40多种。

分析范围：ppm级至50%以上（与矿样种类有关）

实时分析数据和图谱显示

XRF软件具有定性、定量分析功能，控制光管的电压和电流，使测量范围更广

测量完全无损，不受样品形状限制

仪器自动校准，自动存储测量数据，无需人工干预

主机一体化设计，高强度密封，防水、防尘，抗冲击

可选择一键式定时测量

内置Bruker专业操作软件，计算和显示速度快

仪器适应高温，低温，潮湿，雨天、沙尘等恶劣环境

在开机状态下长时间不测量时，仪器会自动进入待机状态，以节省电源和保护仪器

X射线管耐用性强，采用Peltier半导体恒温制冷技术更增加了使用寿命

选配GPS定位系统，可精确定位矿体位置并绘制矿脉分布图

万能FP模式，适于各种矿石样品，大大缩短现场工作时间。自动补偿元素间干扰。

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