MID全志A10,A13方案测试架，全志方案NAND FLASH测试架，用于检测4G,8GFLASH芯片的好坏。

MID瑞芯微方案测试架，瑞芯微方案NAND FLASH测试架，用于检测4G,8GFLASH芯片的好坏。

SSD固态硬盘测试架，可检测LGA ，BGA100，TSOP48等NAND FLASH芯片。

以上测试架都可以根据客户方案，订制测试架！



根据客户的测试要求，使用数次，图纸，测试数量，进行设计！灵活使用座头，快手夹结构，CNC高精密加工，保证模具定位精确，追求操作简单，经济，效率，性能可靠，手动，气动均可。探针可更换，维修方便，成本低,夹具采用绝缘材料：电木、FR4，使用寿命30万次以上，最小可做到跳距pitch=0.4mm(引脚中心到中心的距离）可以免费提供相关的技术支持！


　　售后保障：
      1. 三个月内免费保修（人为损坏除外）。
　　2. 保修期外，如果需要换部件，只收对应材料成本费。
      3. 免费提供相关的技术支持！