蒸汽老化试验箱适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业、电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验；半导体、被动组件、零件接脚氧化试验。老化箱整体不锈钢SUS #304制成，操作设定简易 微电脑数位LED控制，具时间规划功能，最大可设定9,990Mins 多重超温保护／缺水切电热等安全装置。零件、连接器被动元件，半导体接脚高温高湿氧化试验。
金属接脚沾锡性试验加速老化试验。
采用式PID SSR温度控制器，同时具有时间计时功能，最大可设定9990分式无限。技术规格参数内部尺寸500×400×170（W×H×D）mm外部尺寸600×500×420（W×H×D）mm内外箱体材质SUS304#优质不锈钢板保温层PV发泡胶升温时间大约40分钟控制功能PID SSR,数字式显示，白金电阻温度传感器（PT100）解析度0.1℃蒸气温度97℃计时功能1～9999分钟，附时到报警功能，时间到达后切断电源水位控制附水箱自动补水电源220V±10% 50Hz
3.0KW可按要求设计单槽或三槽。