粗糙度仪-T1000
T1000移动式组合测量仪测量范围广，操作灵活. 无论是在车间使用，还是在生产线上使用，都能满足用户的最高测量要求.
T1000 basic测量仪配置了滑轨式探测系统，可用于各种不同的粗糙度标准测量，特别适用于两个凸台之间的横向测量. T1000 wave升级版测量仪则在此基础之上还能通过基准面探测系统测量初级形状和波纹度.
此类测量仪的大规格显示屏能使特征数据和形状一目了然. 用户如有需要可选择内置打印仪记录测量数据. 在固定操作的状态下，能通过TURBO DATAWIN视窗软件完成高要求的数据分析.
T1000 basic基础型测量仪配置了滑轨式探测系统，测量迅速便捷，使用户在启动后便可知晓测量结果.
操作的时候极其简单. 线进给装置LV16 (含粗糙度测头 T1E) 可在直面或斜面上定位，测量起动后约10秒钟便可显示测量结果.
移动操作时，测量仪的内置打印仪会直接记录测量结果. 固定操作时，也可将测量和轮廓数据传送到电脑上，以供分析.
采用T1000 basic基础型测量仪可以测量各种常见的粗糙度特征数据，包括中心粗糙度数据以及Motif和JIS参数.
供货范围
霍梅尔-埃达米克 T1000 basic基础型测量仪
商品号：240 850
• 霍梅尔-埃达米克 T1000 basic 分析仪
• 可根据DIN/ISO/JIS/Motif/SEP1940 标准 分析40多项粗糙度特征数据
• 集成在内的统计功能
• 可设定所有特征数据的上下公差，并三色显示公差带
• 可打印特征数据、R形状和材料含量曲线图
• 通过大的图像显示屏进行菜单操作和显示测量结果
• 可保存200种设置/ 999个测量次数
• 厂家校准，不需自行校准
滑轨式探测系统的直线进给装置 LV16
• 用于轴向及横向探测
• 用于凸台探测和凹槽探测
• 探测距离16 mm
• 集成在内的起动按钮
• 用于探测平面、波纹面和内孔的T1E滑轨式探头
• 箱式包装，配送充电器
