仪器用途：

倒置型LWD200-4XB金相显微镜适用于金相学、冶金学专业实验室的研究。并广泛应用于集成电路IC行业、电子半导体业。也可用于鉴别和分析各种金属和合金的组织结构，可广泛地应用在工厂或实验室进行铸件质量的鉴定，原材料的检验或对材料处理后金相的研究分析等工作。本仪器可配用摄影装置进行显微摄影

主要技术参数：

1．双目镜筒：倾斜60 °，瞳距55mm-75mm 视度±5°

2．平场目镜：10X/18mm、12.5X/15mm ，

带0.1mm刻度十字分划板目镜WF10X

3．消色差物镜：10X、、100X（S、O）

金相平场消色差物镜：40X(S)

4．总放大倍数：100X-1250X

5．载物台：尺寸200mm*180mm 

带两块载物盘￠10mm和￠20mm，

移动范围 70*50mm

6．调 焦 ：粗微动同轴 升降范围25mm 

微动格值0.002mm，手轮松紧可调节

7．聚焦镜：柯勒照明 ,滤色片（带蓝、绿、黄三块滤色片）

8．光 源：可调卤素灯 6V20W