X射线荧光分析仪 X-Strata920 是一款低成本高效率、快速可靠的镀层厚度测量及材料分析设备。
主要特点：快速、的分析：大面积正比计数探测器和牛津仪器50瓦微聚焦X射线光管（X射线光束强度大、斑点小，样品激发佳）相结合，提供最佳灵敏度
简单的元素区分：通过次级射线滤波器分离元素的重叠光谱
性能优化，可分析的元素范围大：X-Strata920 预置800多种容易选择的应用参数/方法
卓越的长期稳定性：
自动热补偿功能测量仪器温度变化并做修正，确保稳定的测试结果
例行进行简单快 速的波谱校 准，可自 动检查仪器性能（例如灵敏性）并进行必要的修正
坚固耐用的设计
可在实验室或生产线上操作
坚固的工业设计
电子、电气原件
有效控制生产过程，提高生产力
确保元件可靠性
同时测量焊料合金成份和镀层厚度
优化质量控制，确保产品生命期
例如：
分析导电性镀层金和钯的厚度
测量电脑硬盘上的NiP层厚度
电镀处理的成本最小化，产量最大化
快速简单的分析
同时进行单层或多层镀层厚度测量及成份分析
最多可分析4层镀层
镀液成份分析
金属合金成份分析和牌号认定
珠宝及其他合金的快速无损分析
贵金属合金分析
黄金纯度分析
材料鉴定
固定样品台
样品台位置固定
经济、实用
平面样品台设计，适合高
度不超过1.3"(33mm)的样
品分析
加深样品台
高度每英寸(25.4mm)可
调，架构式样品舱可容纳
最大高度6.3"(160mm)的
样品
程控样品台
用于自动化测量
方便根据测试位置放置样品，
并精准定位测量点
样品台尺寸：22"(D) x 24"(w)，即560mm (深) x 610mm (宽)
程控台移动距离：7" x 7"，
即178mm x 178mm
