SUN-OT5000系列掌上型光时域反射仪是一款独具匠心的光纤线路寻障分析产品，为光纤通信网测试提供了一种全新的应用方式，其稳定性和惊人的性价比在全球广受瞩目。其与传统 OTDR 相比，其尺寸更加小巧，操作更为简洁，独特的热键功能使事件的浏览和分析更加快捷；功能齐全，全面满足单模(1310nm/1550nm)、多模(850/1300nm)等光纤测试应用需求，支持平均/实时双测量模式；其多功能背包亦充分考虑到了野外作业和实验室测试的操作方便，可充分满足不同用户和各种现场测试需求，使其成为目前发展迅速的农话网、城域网和 FTTx 光纤施工、认证、例检、抢修和维护中的首选工具。
开机启动时间小于5秒
从开启电源到进入接口并启动测试只需要不到 5 秒的时间，用户无需等待。
OTDR TraceManager仿真软件
基于Windows PC 机的软件可以在 PC 机上对测试迹线进行分析/编辑，也可根据使用者需求生成不同形式的测试报告。
产品特点
- 可浏览和分析所测试迹线档
- Bellcore 档存储格式
- 显示迹线，光纤事件，分析信息，测试参数等数据
- 单页单迹线或单页多迹线可选打印模式批量修改和批量打印功能
- 波形差异对比功能在仿真模式中，可在同一窗口同时打开多个波形，波形间的差异在同一窗口显示出来，可以更容易地比较诸如光纤老化原因所造成的参数改变。
- 双方向分析测试功能
- 全面光纤测试应用：
单模：1310/1550nm，最大 45dB 多模：850/1300nm，18/22dB
- 高效人机界面，掌上型轻量化设计（仅重 1kg）
- 独特的热键设计：按键操作集成热键功能，快捷定位及分析事件点
- USB/RS232 数据接口
- 1000 条迹线存储
- 优化的供电设计：内置 NiMH 充电电池一次充电可支持 8 小时测量
- 防尘、防震设计
技术指标
型号(1) | 波长(±20nm) | 动态范围(2) | 事件盲区(m) | 衰减盲区(m) |
SUN-OT5000-M | 850/1300 | 21/24 | 1.8 | 8 |
SUN-OT5000-S1 | 1310/1550 | 28/26 | 1.8 | 8/10 |
SUN-OT5000-S2 | 1310/1550 | 32/32 | 2.5 | 14 |
SUN-OT5000-S3 | 1310/1550 | 38/37 | 2.5 | 14 |
SUN-OT5000-S4 | 1310/1550 | 45/43 | 2.5 | 14 |
SUN-OT5000-16S3C | 1310/1550/1625 | 38/37/37 | 1.5 | 10 |
SUN-OT5000-1625S3C | 1625 | 37 | 1.5 | 10 |
测试范围 (KM)(3) | 0.1, 0.3, 0.5, 1.3, 2.5, 5, 10 @ 850nm; 0.1, 0.3, 0.5, 1.3, 2.5, 5, 10, 20, 40, 80 @ 1300nm 0.3, 1.3, 2.5, 5, 10, 20, 40, 80, 120, 160, 240 @ 其他 | |||
脉宽(4) | 12ns, 30ns, 100ns, 275ns, 1µs@850nm; 12ns, 30ns, 100ns, 275ns, 1µs, 2.5µs@1300nm 5ns, 10ns, 12ns, 30ns, 100ns, 275ns, 300ns, 1µs, 2.5µs, 10µs, 20µs@其他 | |||
测量时间 | 15s, 30s, 1min, 2min, 3min | |||
测距精度 | ±(1 m + 5×10-5×距离+取样间距) | |||
衰减测量精度(dB/ dB) | ±0.05 | |||
反射测量精度(dB) | ±4 | |||
资料存储 | SUN-OT5000-S3,S4 型：1000 条测试曲线；SUN-OT5000M,S1型： 300 条测试曲线 | |||
通信接口 | USB/RS232 | |||
光界面 | FC/PC (可互换 SC, ST) | |||
供电方式 | 双路供电：NiMH 充电电池/ AC 适配器 | |||
电池工作时间 | 一次充电后：连续操作≥8 小时; 待机时间≥20 小时 | |||
工作温度(°C) | 0 ~ 50 | |||
保存温度(°C) | -20 ~ 70 | |||
相对湿度 | 0~95% (无结露) | |||
重量(Kg) |
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体积(长×宽×厚)(mm) | 220×110×70 | |||
注释
(1)技术指标描述了用典型 PC 型连接器测量时仪器的保证性能。不考虑由于光纤折射率导致的不确定度；
(2)动态范围是在最大脉冲宽度、平均时间3 分钟条件下测得；
(3)距离范围中 160Km檔和 240Km档只对本仪表的SUN-OT5000-S2,S3,S4,型有效；120Km 档只对本仪表的 SUN-OT5000-M,S1 型有效；
(4)脉宽中 5ns、10ns、300ns、10us 檔和 20us 档只对本仪表的SUN-OT5000-S2,S3,S4,型有效；12ns 和 275ns 档只对本仪表的 SUN-OT5000- M, S1型有效；
(5)盲区测量条件：对 SUN-OT5000-M, S1型，反射事件在 2.1Km处，反射强度<-35dB，用 30ns 脉宽进行测量；对 SUN-OT5000-S2,S3,S4,型，反射事件在 0.6Km处，反射强度<-45dB，事件盲区用 10ns 脉宽进行测量，衰减盲区用 30ns 脉宽进行测量；
(6)盲区测量条件：反射事件在 1Km处，反射强度<-32dB，用 12ns 脉宽进行测量。
标准配置
主机、FC/PC 激光连接器、充电电池、TraceManager 软件光盘、数据传输线（RS232/USB）、AC 适配
器、便携软包、保修卡、校准证书、快速操作手册
