简介:里博覆层测厚仪采用磁性和电涡流两种测量方法,可无损地检测磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度(如钢、铁、合金和硬磁性钢上的铝、铬、铜、锌、锡、橡胶、油漆等),以及非磁性金属基体上非导电的绝缘覆盖层的厚度(如铝、铜、锌、锡上的橡胶、塑料、油漆、氧化膜等)。
里博薄膜测厚仪的技术参数:
| Leeb 210 | Leeb211 |
测头类型 | F1 | N1 |
工作原理 | 磁感应 | 电涡流 |
测量范围 | 0~1000μm |
低限分辨率 | 0.1μm |
示值误差 | 一点校准 | ±(3%H+1) |
二点校准 | ±[(1~3%)H+1] |
测试条件 | 最小曲率半径mm | 凸1.5 |
最小面积直径mm | Φ7 |
基本临界厚度mm | 0.5 |
工作环境 | 温度 | 0~40℃ |
湿度 | 20%~90% |
磁场 | 无强磁场环境 |
电源 | AAA型碱性电池1.5V两节 |
外形尺寸 | 115×70×30mm(主机) |
重量 | 130g |
薄膜测厚仪:用于测定薄膜、薄片等材料的厚度,测量范围宽、测量精度高,具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。
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