插回损测试仪产品特性：
精度高、量程宽
多种测试接口配置
独特的插损告警提示
大屏幕彩色液晶显示
光源接头可拆卸设计，便于清洁
光源与功率计模块波长联动，减少操作步骤
独特的损耗告警设置，不同颜色显示，大大提升测试效率
插回损测试仪产品概述：
YW-B330i插损/回损测试仪广泛应用于光纤光缆、光无源器件和光纤通信系统的插损和回损测试。
插回损测试仪技术指标：
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光回波损耗测试 |
工作波长 |
1310/1550nm |
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测试范围 |
0 ~ 75 dB |
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校准波长 |
1310/1550nm |
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测试精度 |
0.25dB |
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输出稳定性 |
0.05dB/小时 ( @ 25℃) |
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接口类型 |
FC/APC |
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光插入损耗测试 |
校准波长 |
1310/1550/850nm |
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测试范围 |
+3 ~ -80 dBm |
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测试精度 |
0.25dB |
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显示分辨率 |
对数：0.001dB；线性：0.001nw/μW/mW |
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测试模式 |
线形和非线性 |
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接口类型 |
活动接口， FC/SC/ST/通用φ2.5mm/通用φ1.25mm等适配器 |
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总指标 |
电源 |
AC 100-240V |
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工作温度 |
-5℃～+55℃ |
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外观尺寸 |
260×265×140mm |
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重量 |
3kg |
