IC卡动态弯扭试验机主要用于检测磁条卡，IC芯片卡，集成电路卡，等卡的弯曲和扭曲性能测试 
IC卡动态弯扭试验机针对IC卡在国标GB/T 16649.1，国标GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998国际标准等试验标准中的弯曲、扭矩的试验; 完全符合以上标准。 
IC卡动态弯扭试验机技术参数：

測試速度：彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz 

測試周期：1~9999次 

扭曲度 ：±15°±1° 雙向d=86 mm 

正反向各15°，总扭曲角度30° 

长边最大位移量为20mm(+0.00mm,-1 mm) 

长边最小位移量为2mm±0.50mm， 

短边最大位移量为10mm(+0.00mm,-1 mm) 

长边最小位移量为1mm±0.50mm， 

夹具安装尺寸完全按照国家标准执行。 

若有技术问题,请致电优鸿技术工程师李工15921450210 021-31320425