大面积硅漂移（SDD）能谱技术，更优异的分析性能；
更好的分辨率，80mm2的探头标准分辨率可达127eV（MnKa)；
20mm2, 50mm2, 80mm2可选，更高的计数率，更高的工作效率；
低束流下的高计数率，冷场扫描电镜的理想选择；
高计数率下的高效率，与EBSD集成的最佳配合；
简单高效的现场维护，保证您的系统8小时恢复正常，包括窗口破裂；
著名的INCA导航界面，丰富强大的分析功能；
最新AZtec软件，自定义界面，操作更灵活，并与EBSD完全一体化
专业的售后服务，无任何后顾之忧！