DDR3x16_4ea 测试治具 DDR3导电胶测试治具

产品特点:
- 手动翻盖滚轴式结构,省力又方便,零磨损,专利号:ZL2012 2 0056976.7
- 压块浮动结构,延长导电胶寿命,适用不同厚度的IC
- 通用性高,只需换限位框,即可测试尺寸不同的颗粒(宽度≤13MM,长度≤16MM)
- 金手指镀金厚度是普通PCB的10倍(30μm),保证测试治具有更好的导通和耐磨性
- 金线导电胶减短IC与PCB之间数据传输距离,测试更稳定,最高频率可达2000MHZ,且更换方便,成本更低
- 全新设计更薄,不需转换槽可直接插到测试板上进行测试,频率衰减更低,减少误测
技术参数:

技术图纸:

与探针治具对比:

与同类治具对比:
