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COULOSCOPE® CMS STEP


台式设备，用于根据STEP测量法对多层涂镀层系统的电位差进行测量，以及用于金属或非金属基材上所有的金属涂镀层的库仑电量涂镀层厚度测量（单层或多层系统）

特点

• 该设备根据库仑电量分析法进行测量，符合 DIN EN ISO 2177、50022 和 ASTM B764标准
• 通过此设备可以简便的对镍镀层之间的电化学的电位差进行测量。 可以用于测量铜基层、镍多层涂层和铬涂层的厚度

• 涂层部件的进货检验，例如汽车工业中的镀铬镶边（带有双层镍）
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