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FISCHERSCOPE® X-RAY 5000

X 射线荧光测量系统，用于在生产过程中对薄镀层如 CIGS、CIS 或 CdTe进行连续在线测量和分析

特点

• 法兰测量头，用于在生产线中进行连续测量
• X射线探测器可以为比例计数管，珀耳帖制冷的硅 PIN 或硅漂移探测器
• 在生产过程中直接用典型产品进行快速简单校
• 可在真空或大气中使用
• 可以在最高 500° C 的高温基材上进行测量
• 坚固和耐用是设计的重心

• 光伏技术（CIGS，CIS，CdTe）
• 分析对金属带、金属薄膜和塑料薄膜上的镀层
• 连续生产线
• 喷射和电镀生产线监测
• 测量大面积样品
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  根据 DIN ISO 3497 和 ASTM B 568 标准进行测量