德国SENTECH Instruments致力于发展薄膜测量技术（光谱椭偏仪、激光椭偏仪、反射膜厚仪）和等离子加工技术（等离子刻蚀、沉积系统，定制解决方案），专业研发、制造、销售相关仪器和设备。 

典型型号：SI500、SI500PPD、SE400advanced、SE500advanced、SE 900-50、SENDURO、SENresearch、Reflectometer RM、Etchlab200、SI100..... 

激光椭偏仪 

SE 400adv , SE 500adv -激光椭偏仪，多角度入射，先进的硬件和软件能够对薄膜厚度和光学常数进行最精确的测量，可分析单层膜和多层膜。

SENresearch –研发用高性能光谱椭偏仪系列，多角度入射，宽光谱范围（190-2500nm）。

SENDURO®-全自动光谱椭偏仪，预先设定多层膜分析应用程序。

具体型号及技术要求欢迎来电咨询。