卤素水分测定仪/梅特勒HS153水分仪价格
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HS153超越系列卤素水分测定仪
技术参数：
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HX204 |
HS153 |
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可读性 |
0.01% / 0.001% |
0.0001 |
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量程范围 |
200g |
150g |
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温度范围 |
40-230°C |
40-230°C |
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升温程序 |
标准、温和、快速、阶梯 |
标准、快速、温和 |
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方法存储 |
300 |
99 |
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上盖打开 |
Motorized |
Manual |
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水平控制 |
水平控制系统(LevelControl)，具有警告功能 |
水平指示器 |
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全自动校准技术 (FACT) |
是 |
否 |
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称量单元测试 |
任意质量点的示值误差、默认 100g |
示值误差，默认 100 g |
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加热单元测试 |
在校正点和任意设置温度时的 2 点温度校准 |
在 100/160°C 时的 2 点温度校准 |
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称量单元校正 |
任意质量点的示值误差、默认 100g |
示值误差，默认 100 g |
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加热单元校正 |
任意定义温度时的 2 点温度校准（默认：100/160°C) |
在 100/160°C 时的 2 点温度校准 |
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控制图表 |
是 |
是 |
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干燥曲线 |
是 |
是 |
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合格/不合格判定 |
是 |
是 |
最佳测量性能
悬挂式秤盘
创新的悬挂式秤盘设计避免了散落样品，以及加样腔的温度对称量单元的影响，通过消除对称量单元的负面热效应，改善测定结果。此外，由于秤盘下方的平整和密封的表面，确保仪器的结构坚固且易于清洁。溢出的样品不会影响称量单元。
您的优势
实时干燥曲线
每个产品的独立控制极限
自动显示合格/不合格判定消除了人为失误
先进的仪器控制
全自动校准技术 (FACT)、水平控制 (Level Control)、使用点测试
超越系列 HX204 卤素水分测定仪具有先进的控制功能，可以确保全面的仪器验证，时刻纠正结果，是高度严格监管的行业的理想之选。FACT 使用内部砝码自动校正校准天平，如果仪器没有正确调平，内置的电子水平控制系统会发出警告，同时，可以在工作环境下校正加热元件和天平。
您的优势
全面的仪器控制
一致的精确结果
一键水分测定 (One Click™ Moisture)
智能用户管理
独立用户权限确保符合质量要求。个性化主页可满足每一位用户的需求，仅提供完成日常任务所需的信息。密码保护和访问权限可防止错误，确保符合标准操作规程 (SOP).
您的优势
确保完全符合法规要求
One Click（一键操作）确保无误的流程
拥有访问权限且受到密码保护，避免误用
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