荧光膜厚仪,日本荧光X线膜厚计，荧光膜厚计，镀层测
东莞市力川仪器有限公司
中国 东莞
产品属性
图文详情
品牌推荐
品牌/型号
日本电测/EX-3000
类型
镀层测厚仪
品牌
日本电测
型号
EX-3000
测量范围
0.1（mm）mm
显示方式
LCD
电源电压
100（V）V
外形尺寸
362W ×425D ×486H （mm）mm
| 产品型号： | EX-3000 | |||||
| 品牌：日本电测 | ||||||
| 产品简介： | ||||||
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| 主要技术参数： | ||||||
| 仪器特点： | ||||||
| 搭载MS-WINDOWS系统（优越的操作性与高精度测定） | ||||||
| 使用与IBM PC兼容个人电脑，采用MS-WINDOWS软体，使用时多彩多姿。 | ||||||
| 采用二种滤波器 | ||||||
| 用用数位式滤波器外另有机械式滤波器（两种滤波器），在测定时，若是最适当的条件下， | ||||||
| 经常可得到最高的精度。 | ||||||
| 准值仪5种孔径内藏式 | ||||||
| 最小的准值仪孔径仅0.1 mm，可测定极微小的部品。 | ||||||
| 标准： 0.1,0.2,0.5,1.0,2.0另备有2种特别规格可供选购。 | ||||||
| 0.05,0.1,0.2,0.3,0.5 | ||||||
| 0.05*0.5,0.1,0.2,0.3,0.5 | ||||||
| 自动测定测量台 | ||||||
| 利用鼠标来调整测量位置，非常敏捷快速。或是测量位置已完成登陆时，可连续自动测定， | ||||||
| 利用座标补正、连结频道，来应付各种测量轨迹。亦可用自动测定来作标准片校正。 | ||||||
| 优越的显示机能 | ||||||
| 测定部显示尽像的表示 | ||||||
| X线照射部可由WINDOWS画面上取得照射部的表示。从准仪照射测定物的位置，可由倍率 | ||||||
| 率更机能来实现尽面上测出物放大。 | ||||||
| 在膜厚测定中的能谱表示 | ||||||
| 由多频分析器可快速处理能谱分析。可执行测定物的能谱分析表示，操作简单。 | ||||||
| 提长资料处理的速度 | ||||||
| 充实测量报告的作成机能 | ||||||
| 采用MS-WINDOW软件，测定画的撷取，非常简便，可充衬测量报告的制作机能。可同时间 | ||||||
| 隔处理多项工作，机器在测量中亦可处理其它工作：包括如测量报告的制作。 | ||||||
| 测定物膜厚附着分布表示 | ||||||
| 以三次元图案来表示测定物膜厚附着状态的分布，作判定时一目了然。 获得安心的保证性。 | ||||||
| 自己诊断机能及X线管保食机能 | ||||||
| 自己诊断机能，迅速的对策来排除机器的因扰。附有X线管的使用时间及耐久时间表示机能， | ||||||
| 可加强保养的安全性。 | ||||||
| 仪器详细介绍： | ||||||
| 1. X线源:油浸式1.2mA小型微小焦点X线管. 50kV管电压，可变管电压。 | ||||||
| 2. 照射方式：由上而下垂直照射方式。 | ||||||
| 3. 检出器：比例计数管。 | ||||||
| 4. 滤波器：采用 Co 和 Ni 双滤波器及数字式滤波器，可单一或同时使用。 | ||||||
| 5. 准直仪：Collimator 采用五种孔径一体成型式，可自动切换使用。 | ||||||
| 0.1,0.2,0.5,1.0,2.0φ㎜. | ||||||
| (选购) 0.05×0.5,0.05,0.1,0.2,0.5φ㎜. | ||||||
| (选购) 0.05,0.1,0.2,0.3,0.5φ㎜. | ||||||
| 6. 样品观测系统：彩色CCD及高画质显示屏。 | ||||||
| 7. 多能谱分析器：使用256高频分析器，光谱自动分析，在执行测量及运算时，非常快速。 | ||||||
| 贰. 计算机操作部: | ||||||
| 8. 计算机系统：(※仅供参考) | ||||||
| IBM 兼容中文个人计算机. | ||||||
| CPU：Intel Celeron 1GHz. | ||||||
| RAM：128 MB. | ||||||
| Floppy Disk： 3.5 ×1， 40倍速 CD-ROM ×1. | ||||||
| Hard Disk：40 GB. | ||||||
| 17" 高画质显示屏. | ||||||
| EPSON彩色喷墨式打印机。 | ||||||
| 9. 本机型(CO**OS-1X系列)之操作系统采中文窗口(Windows98)对话式操作，非常简便。 | ||||||
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| 参. 特性说明: | ||||||
| 10. 测量项目： | ||||||
| 单层膜厚测定. | ||||||
| 2层膜厚测定. | ||||||
| 3层膜厚测定. | ||||||
| 无电解镍膜厚测定. | ||||||
| 合金膜厚成份比同时测定. | ||||||
| 元素的光谱峰值测定分析. | ||||||
| 11. 测量材质：原子序22(Ti) ~ 82(Pb)为激发法测量。 原子序22以下为吸收法测量。 | ||||||
| 12. 测量范围：原子序22 ~ 24 ， 约 0.2 ~ 20 um. 原子序25 ~ 40 ， 约 0.1 ~ 30 um. 原子序 | ||||||
| 41 ~ 51 ， 约 0.2 ~ 70 um. 原子序52 ~ 82 ， 约 0.05~ 10 um. | ||||||
| 13. 测量机能： | ||||||
同一点重复测定机能 | ||||||
| 输出形式设定. | ||||||
能谱测定. | ||||||
| 14. 测量条件或膜厚规格可以保存. | ||||||
| 当要测量相同的制品时，若测量条件已储存，可以马上进行测量。 | ||||||
| 最大检量线档案数：可登录储存100组档案。 | ||||||
| 最大测量档案数 ：可登录储存300组档案。 | ||||||
| 15. 档案记录： | ||||||
| 每一个批号可储存无限个测量数据.(因所使用的计算机之容量大小而定) | ||||||
| 每一个测量档案可输入及储存公司名称. | ||||||
| 每个批号可单独执行统计处理. | ||||||
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| 每个测量档案可输入不同的检量线(校正曲线). | ||||||
| 16. 数据处理： | ||||||
| 统计值表示：平均值、标准偏差、最大值、最小值、上下限值范围、Cp、Cpk。 | ||||||
| X-R 管制图. | ||||||
| 柱状图：有自动设定及自己任意设定二种方式。 | ||||||
| 可彩色打印观物显示屏上所观测之图像。 | ||||||
| 17. 底材补正：当样品与标准片的底材不同时，可作底材补正。 | ||||||
| 18. 观物显示屏：十字刻度线的高分辨率彩色观物显示屏。 | ||||||
| 肆. 安全装置. | ||||||
| 19. 本机俱有自动安全断电系统功能. | ||||||
| 20. 由锁匙开关来控制X 线输出，以防止外人任意操作. | ||||||
| 伍. 其它机能. | ||||||
| 21. 密码辨识功能 | ||||||
| 22. 装置维护调整. | ||||||
| 23. 测量部主机： 尺寸：362(W) ×425(D) ×486(H) ㎜. | ||||||
| 重量：约 44.2 Kg. | ||||||
| 24. 操作部：(※仅供参考) | ||||||
| 计算机尺寸：180(W) ×420(D) ×360(H) ㎜. | ||||||
| 重量：约 8.8 Kg. | ||||||
| 显示屏尺寸：360(W) ×420(D) ×370(H) ㎜. | ||||||
| 重量：约16.5 Kg. | ||||||
| 打印机尺寸：500(W) ×250(D) ×300(H) ㎜. | ||||||
| 重量：约 4.3 Kg. | ||||||
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| 柒. X-Y-Z轴可移动式测量台. | ||||||
| 25. 测量台尺寸及移动量. | ||||||
| 测量台尺寸 170 (W) ×100 (D) ㎜ | ||||||
| 移动量(X-Y-Z轴) 70 ×70 ×50 ㎜. | ||||||
| 26. 测量样品限制. | ||||||
| 样品限制高度： 45㎜ | ||||||
| 样品限制重量： 3 Kg. | ||||||
| 捌. 使用电源. | ||||||
| 27. 电压: AC100V ±10V ； 50/60Hz | ||||||
| (选购) AC110V， AC220V. | ||||||
| 28. 容量: 700V | ||||||
